FTIRシリーズ セミカスタム品

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島津FTIRシリーズに取り付け可能なセミカスタム品（受注生産品）をご紹介します。
分析目的に合ったセミカスタム品をお選びいただき，島津FTIRシリーズとともにご愛用ください。

システム名 対象試料 概　要
TG-FTIRガス測定システム ポリマーなど 熱分析装置から発生するガスをFTIRの温調付ガスセルで，赤外吸収スペクトルを繰り返し測定するシステムです。スペクトルの変化はタイムコースプログラムで束測定します。
紫外線照射システム 紫外線硬化樹脂など 接着剤などの紫外線照射による硬化反応を追跡するシステム。試料に紫外線を照射した場合のスペクトル変化をラピッドスキャン測定ソフトウェアにより測定します。数秒で反応が終了するような急速な反応の測定ができます。
ガス測定システム ガス全般 各種ガスの定性・定量分析。検出したいガスの成分，濃度などにより，ガスセルの光路長，窓板の材質，耐熱温度，腐食性コーティングの有無などを決める必要があります。試料室設置型とガスセルボックス型があります。
放射率測定システム セラミック片，ガラス板など 黒体炉や試料加熱炉で熱せられた試料から発生する赤外光のスペクトル強度分布，放射率（輻射率）スペクトルを測定します。測定可能温度範囲は200℃以上です。
赤外顕微鏡用液体窒素レス検出器 異物全般，650cm-1以下に目的のピークがある試料 赤外顕微鏡AIM-8800に室温検出器であるTGS検出器を搭載し，液体窒素レスで測定するシステムです。必要に応じてMCT検出器とTGS検出器を切り替えて測定することができます。
赤外顕微鏡用赤外偏光子 赤外偏光測定したい試料全般 赤外顕微鏡AIM-8800に赤外偏光子を取り付け，試料の透過/反射/ATR偏光測定を可能にするシステムです。
赤外顕微鏡用冷却・加熱測定システム 接着剤，樹脂など 赤外顕微鏡AIM-8800のステージにメトラー・トレド社製や，ジャパンハイテック社製の冷却・加熱ステージを取り付け，試料を加熱しながら測定します。
加熱真空拡散反射測定システム 粉末試料，ポリマー，触媒粉末など 加熱したり，真空したり，雰囲気ガスを導入しながら，拡散反射測定を行なうシステムです。触媒反応の研究などに利用されます。
高温加熱セル測定システム 液体試料，ゲル状試料，固体試料など FTIR本体に搭載可能な高温加熱セルと温度コントローラから構成されるシステムです。液体試料やゲル状試料，固体試料を窓板で挟み，加熱しながら透過測定が可能です。
NIRファイバープローブ測定システム ガラス瓶/プラスチック袋に入った粉末試料など 近赤外ファイバープローブ（FlexIR）を用いた近赤外測定システムです。長さ2 mの拡散反射プローブを使うとガラス瓶越し，プラスチック袋越し，または直接粉末試料内に入れて粉末試料の近赤外スペクトルが測定できます。液体試料を測定する場合には，オプションの液体測定アダプタ（光路長1.5 mm）をプローブヘッドに取り付けます。
絶対反射率測定システム 反射率の高い試料 PIKE社製の絶対反射率測定付属品用いて，試料の絶対反射率をVM法で測定するシステムです。2回試料で反射するため，反射率は√2となり，反射率を計算するためには測定後にスペクトル演算が必要です。
Siウェハ中の軽元素濃度計算プログラム Siウェハ シリコン結晶中の置換型炭素，格子間酸素およびSiN膜中のN-H，Si-Hの水素濃度を定量します。置換型炭素濃度および格子間酸素濃度は，日本電子工業振興協会から発行されているJEITA規格（シリコン結晶中の格子間酸素濃度と置換型酸素濃度の標準測定法）に沿ったプログラムです。
Siウェハ透過/反射測定システム Siウェハ 半導体ウェハー用自動分析装置（MAP300/MappIR）を用いて，最大12インチのウェハの透過/反射測定を自動化するシステムです。
平行光透過率測定システム Siウェハ，Geディスクなど高屈折率試料 SiウェハやGeディスクなど，高屈折率材料の透過率を，平行光束を使って透過測定を行います。高屈折率材料の透過率をより正確に測定することが可能です。
ベース付カセッテ 透過測定可能な試料全般 試料室に取り付けられるベース板の上にスライド式試料ホルダを取り付けたもの。試料室を汚したくない場合や，試料室下部にあるネジ穴の破損を防止したい場合に使用します。

＊ここに掲載されていないセミカスタム品も多数取り揃えております。また，お客様のニーズに沿ったセミカスタム品の製作も可能です。
＊システムやお見積りにつきましては，弊社担当営業もしくは代理店にお問合せください。

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