FTIRシリーズ カスタム製品

ガス測定システム

各種ガスの定性・定量分析をするシステムです。検出したいガスの成分や濃度などにより、ガスセルの光路長、窓板の材質、耐熱温度、腐食性コーティングの有無などを決める必要があります。

分析試料：ガス全般​

紫外線照射測定システム

試料に紫外線を照射した場合のスペクトル変化をラピッドスキャン測定ソフトウェアにより測定します。数秒で反応が終了するような急速な反応の測定ができます。​

分析試料：紫外線硬化樹脂など​

加熱真空拡散反射測定システム

拡散反射測定装置と試料チャンバーから構成されます。試料チャンバーは真空や雰囲気ガス環境にできます。また、加熱や冷却水を流すことができます。

分析試料：触媒、ポリマー、粉末試料など​

SiウェハATR測定システム

大型のステージによりウェハを切断などすることなく、ユニークな加圧プレス機構と特別な結晶により容易に良好な結果が得られ、再現性の高いSiウェハの表面測定が行えます。​

分析試料：Siウェハ​

拡散反射測定装置特型

パージ環境を維持したまま複数試料の拡散反射測定を可能にしたシステムです。試料ステージは手動で動かすことができます。 ​

分析試料：タンパク質、菌、血漿等のバイオ試料 （ただし、金属板上に乾固させたもの） その他、反射測定が可能な試料全般 ​

放射率測定システム

黒体炉や試料加熱炉で熱せられた試料から発生する赤外光のスペクトル強度分布、放射率（輻射率）スペクトルを測定します。測定可能温度範囲は200℃以上です。​

分析試料：セラミック片、ガラス板など​

自動制御機能マクロプログラム​

自動制御機能とは、他のアプリケーションから与えられた命令に従って自動的にLabSolutions IRが動く機能です。この機能を利用すると、作業者の操作を介さない自動化システムの実現や、作業者は決まった操作だけ実行する人的ミスの少ないシステムを構築することができます。​

分析試料：赤外測定したい試料全般​

潤滑油劣化分析マクロプログラム​

ASTM E2412(2010)の各Tableに記載の計算パラメータに沿ったピーク面積や定量測定を行い、 劣化具合を示したパラメータとして結果をCSVファイルに出力します。​

分析試料：潤滑油​

Siウェハ中の軽元素濃度計算プログラム

シリコン結晶中の置換型炭素、格子間酸素およびSiN膜中のN-H、Si-Hの水素濃度を定量します。置換型炭素濃度および格子間酸素濃度は、日本電子工業振興協会から発行されているJEITA規格（シリコン結晶中の格子間酸素濃度と置換型酸素濃度の標準測定法）に沿ったプログラムです。​

分析試料：Siウェハ​