電気・電子

プリント基板

• プリント基板表面の金属マイグレーション
• 大型実装基板のX線検査 （NDT）
• はんだ付け不良検査 （NDT）
• はんだ充填の解析 （ X線CT ）
• 自動車用コンピュータの観察 （ X線CT ）
• 電子基板の不良解析 （FTIR）

集積回路

• 電解液中における腐食・電池反応の可視化（SPM/AFM）
• 球状シリカ粉末の形状・粗大粒子量評価
• 高濃度シリカナノ粒子スラリー中の 粗大粒子の濃度評価
• カード類の多層めっきの膜厚定量分析
• 非接触型ICカードの断面分析

はんだ

• 鉛フリーはんだの微小Ag粒子の分析
• 鉛フリーはんだの接合界面の分析
• 鉛フリーはんだPbの分析

センサー

• LiDAR評価システム －光学材料の反射率・透過率測定－
• LiDAR評価システム －バンドパスフィルタの透過率測定－
• フォトクロミック化合物の光物性変化

LED

• LED電球の発光スペクトル測定(1) （UV）
• LED電球の発光スペクトル測定(2) （UV）

その他（電子部品）

• 水晶発振器の観察 （X線CT）
• パワーインダクタの観察 （X線CT）
• 樹脂製コネクタの観察 （X線CT）
• 圧電材料の観察 （SPM/AFM）
• 磁気材料の磁気力測定 （SPM/AFM）
• 電子部品の不良解析 （赤外顕微鏡）
• 光学部品の微小異物解析 （赤外顕微鏡）
• 有機EL材料の蛍光測定
• 電気絶縁油中のベンゾトリアゾールの測定（LC）
• ネオジム焼結磁石の測定 （EPMA）

• 関連情報

第5世代移動通信システム（5G）

• 5G通信機器用基板の分析 （EPMA）
• 5G基地局用セラミックフィルタ
• フッ素樹脂の特性評価

スマートフォン

• スマートフォンのX線検査 （NDT）
• スマートフォン近接センサ窓の透過率測定（UV）
• スマートフォンの保護フィルム・ガラスの光学特性（UV）
• ガラスの衝撃試験における破壊観察
• ガラスのリング曲げ試験
• ガラスのリングオンリング曲げ試験における破壊観察
• スマートフォン用機能性フィルムの機械強度特性評価
• 粘着テープのプローブタック試験
• プラスチック材料の曲げ試験