装置紹介

マイクロフォーカスX線検査装置 Xslicer SMX-1010/1020
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マイクロフォーカスX線検査装置Xslicer SMX-1010/1020

Xslicer SMX-1010/1020は90 kVマイクロフォーカスX線発生装置と高解像度フラットパネル検出器を搭載した縦照射型X線装置です。

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マイクロフォーカスX線検査装置 Xslicer SMX-1010/1020

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  • 業界最高画質・検査工数大幅削減! Xslicer SMX-1010/1020

    業界最高画質・検査工数大幅削減! Xslicer SMX-1010/1020

    最新型X線検査装置 Xslicer SMX-1010/1020は,従来機(SMX-1000 Plus)から大幅に画質を向上し、好評いただいていた操作性をさらに進化させました。画質の向上だけでなく検査工数を大幅に削減する機能を搭載しています。検査時間の短縮をキーワードに本装置をご紹介します。

  • NDI-X線従量課金サービスのご紹介

    NDI-X線従量課金サービスのご紹介

    最新型X線検査装置 Xslicer SMX-1010/1020は,従来機(SMX-1000 Plus)から大幅に画質を向上し、好評いただいていた操作性をさらに進化させました。画質の向上だけでなく検査工数を大幅に削減する機能を搭載しています。検査時間の短縮をキーワードに本装置をご紹介します。

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 EDX-7200
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エネルギー分散型蛍光X線分析装置EDX-7200

試料にX線を照射して発生する蛍光X線のエネルギー(波長)や強度を解析することにより試料を構成する元素の種類や含有量を調べる装置です。

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エネルギー分散型蛍光X線分析装置 EDX-7200

形態観察

  • 走査プローブ顕微鏡 SPMシリーズ

    走査プローブ顕微鏡SPMシリーズ

    走査型プローブ顕微鏡(SPM)は、試料表面を微小な探針で走査することによって三次元形状を高倍率で観察する顕微鏡の総称で、AFM (原子間力顕微鏡)が基本装置です。
    金属や半導体をはじめとして、セラミックス、有機物、高分子などを前処理をせずに大気中で高分解能観察が可能で、数千倍から数百万倍という高倍率の試料表面凹凸像が得られます。試料の高さ方向の分解能にも優れているため、材料表面粗さの精密測定が可能です。

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  • 3D測定レーザー顕微鏡 OLS5100シリーズ

    3D測定レーザー顕微鏡OLS5100シリーズ

    専用レンズと共焦点レーザー専用光学系などの新技術を搭載した高解像度の三次元測定顕微鏡です。前処理を必要とせずにさまざまな表面観測ができます。非接触かつ光学的観察のため、接触式粗さ計では測定できない柔らかい材料表面でも精密な粗さ計側ができます。

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  • マイクロフォーカスX線CTシステム inspeXioシリーズ

    マイクロフォーカスX線CTシステムinspeXioシリーズ

    島津製マイクロフォーカスX線発生装置と高感度X線検出器を搭載した高性能マイクロフォーカスX線CTシステムです。直感的なユーザーインターフェイスにより、誰でも簡単にワーク内部の3次元構造を観察できます。電機電子部品の内部構造観察、故障解析が可能です。

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  • マイクロフォーカスX線検査システム Xslicerシリーズ

    マイクロフォーカスX線検査システムXslicerシリーズ

    高精細かつ広ダイナミックレンジな透視画像により微細な内部構造・欠陥をX線透視観察できます。操作性だけでなくステージ移動速度や検出器取り込み速度も向上することで検査にかかる時間を大幅に短縮。検査作業の効率化が図れます。表面実装基板や各種センサー類、ハーネス類まで電機電子部品検査に幅広くお使い頂けます。

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表面分析

  • 電子線マイクロアナライザ EPMAシリーズ

    電子線マイクロアナライザEPMAシリーズ

    電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)は固体物質を分析する装置の一つです。EPMAは、加速され集束された電子ビームを試料に照射することによって、試料の表面から発生する特性X線を計測して分析する装置です。ミクロンからサブミクロン、ナノ領域に至る異物解析、実装部品の半田接合などの金属間化合物の元素分析が可能です。

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  • イメージングX線光電子分析装置 KRATOS ULTRA2

    イメージングX線光電子分析装置KRATOS ULTRA2

    XPS(もしくはESCA)とは、軟X線照射によって固体表面から放出された光電子の結合エネルギーを測定し、物質中に存在する元素の種類や化学結合状態を分析する手法です。
    光電子の脱出深さが数ナノメートルであることから、固体最表面に近い層からの情報のみが得られます。ナノテクノロジーの開発に不可欠な、薄膜や多層膜の評価、材料表面の汚染管理、または高分子表面処理の評価などに貢献します。

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分光分析

  • 自動不良解析システム IRTracer-100 + AIM-9000

    自動不良解析システムIRTracer-100 + AIM-9000

    製造工程で使用されている原材料や雰囲気中の塵埃による異物のうち、特に有機物の同定については最も有効な方法として赤外顕微鏡があげられます。電子部品の端子に付着した異物の分析事例です。広視野カメラを用いることで、部品全体の観察から測定箇所の決定まで、スムーズに行うことができます。薄いシミや小さい異物など、反射測定で良好なスペクトルが得られにくい場合には、ATR法(Geプリズム)などが有効です。

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  • フーリエ変換赤外分光光度計 IRSpirit

    フーリエ変換赤外分光光度計IRSpirit

    フーリエ変換赤外分光光度計(Fourier Transform Infrared Spectroscopy,FTIR)は、主に有機化合物の構造推定(定性)を行う分析装置です。赤外線を分子に照射すると、分子を構成している原子間の振動エネルギーに相当する赤外線を吸収します。
    この吸収度合いを調べることによって化合物の構造推定や定量を行うのが赤外分光法です。
    RSpiritシリーズをはじめとする島津FTIRは電子・電気・半導体分野の微小パーツ(ICチップなど)上の不具合箇所の定性等、さまざまな構造解析・非破壊測定の現場で活用されています。

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  • 紫外・可視・近赤外分光光度計 UV-1900i

    紫外・可視・近赤外分光光度計UV-1900i

    島津独自のローレライグレードグレーティングを採用したダブルビーム紫外可視分光光度計です。低迷光と高い再現性(測光繰り返し精度)により、低濃度から高濃度まで正確な定量分析が可能です。

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規制物質測定

  • エネルギー分散型蛍光X線分析装置 EDXシリーズ

    エネルギー分散型蛍光X線分析装置EDXシリーズ

    蛍光X線分析装置は、試料にX線を照射して発生する蛍光X線のエネルギー(波長)や強度を解析することにより試料を構成する元素の種類や含有量を分析します。非破壊で固体、粉体、液体などの元素分析ができ、プリント基板など電子機器に含まれる有害元素を非破壊で迅速に分析できることから、電子機器・自動車メーカーにおけるRoHS/ELV指令対応のための受入出荷検査など品質管理に世界中で広く利用されています。

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  • フタル酸エステル スクリーニングシステム Py-Screener Ver.2

    フタル酸エステル スクリーニングシステムPy-Screener Ver.2

    Py-Screenerは、樹脂中のフタル酸エステルをスクリーニングするためのシステムです。フタル酸エステル類は欧州における電気電子機器に含まれる特定有害物質使用制限指令(RoHS(II)指令)でも使用制限物質として規制されています。パイロライザーGC/MS(Py-GC/MS)により試料から熱抽出したフタル酸エステル類を選択的に検出して定量します。本スクリーニングシステムは、Py-GC/MSでのフタル酸エステルのスクリーニングを簡単に行うための専用ソフトウェア、専用標準試料やサンプリングツールキットなどで構成され、初めての方でも簡単に操作できます。

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  • 陰イオンクロマトグラフ HIC-ESP

    陰イオンクロマトグラフHIC-ESP

    電機・電子機器で用いられるはんだ材料には、環境負荷低減の観点から低ハロゲン化への要求が高まり、「ハロゲンフリーはんだ材料」が用いられるようになっています。社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)では、はんだ本来の接合性と環境負荷低減の両方の観点から、ハロゲンフリーはんだ材料の規格化がされています。この中で各ハロゲン含有量の試験法としては、フラックス固形分を燃焼分解し、イオンクロマトグラフで測定する方法が定義されています。

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  • ガスクロマトグラフ質量分析計 GC-MSシリーズ

    ガスクロマトグラフ質量分析計GC-MSシリーズ

    GC-MSは、クロマト分離を行う (1)ガスクロマトグラフ(GC)、質量分離を行う(2)質量分析計(MS)という分離手法が異なる2つの装置から構成されます。
    揮発性有機化合物(VOC)を吸着剤に吸着させ加熱脱離を行う際にはサーマルデソープションシステムを導入します。固体吸着/加熱脱離法は、溶媒抽出法に比べて微量成分を測定するのに適しています。また、ヘッドスペースGCMSシステム導入することで、電子部品からの放散ガスの測定に利用できます。

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  • ICP質量分析計 ICPMS-2030

    ICP質量分析計ICPMS-2030

    ICP-MSは、誘導結合によって生成される約10,000℃のアルゴンガスのプラズマ(ICP:Inductively Coupled Plasma)を利用して液体試料中の元素をイオン化し、質量分析(MS:Mass Spectrometry)を行う装置です。元素の定性・定量をppt(1兆分の1)レベルの感度で行うことができ、元素分析を行う装置として最も高感度と言われています。 水道水に含まれる有害元素の測定や規制物質の精密定量分析が可能です。

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  • ICP発光分析装置 ICPE-9800シリーズ

    ICP発光分析装置ICPE-9800シリーズ

    マルチタイプICP発光分光分析装置ICPE-9800シリーズは、濃度を問わず多元素の一斉・迅速分析を可能にする精確性と、分析を容易にするソフトウエアの簡便性を備えた次世代装置です。さらに、業界最高水準のシステムで分析のローコスト化を実現。環境、化学、金属など様々な分野でICP発光分光分析の頂を窮めます。

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  • 全有機体炭素計 TOCシリーズ

    全有機体炭素計TOCシリーズ

    TOC計は、低分子の易分解性有機物だけではなく、不溶解性や高分子状を含めた難分解性有機物も高効率で酸化できることが重要です。680℃触媒燃焼酸化方式による高い有機物酸化能力と純水管理も可能な高感度を両立したTOCです。半導体製造工程における洗浄用超純水から酸・アルカリ・塩分を含む回収水の管理まで、幅広く対応します。

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機械特性評価

  • 精密万能試験機 AGX-Vシリーズ

    精密万能試験機AGX-Vシリーズ

    高性能、操作性、安全性を実現したモータ駆動式の精密万能試験機です。速度範囲の拡大、剛性向上、試験力精度保証範囲を1/2000に拡大したロードセルなどの基本性能の向上だけでなく、新たに設計した制御装置により、複雑な試験にも対応可能です。プリント基板上にハンダ付けされた電子部品のハンダ付強度評価や、コネクタピンの抜き差し力評価、ハンダ付はく離試験 等が可能です。

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  • 電磁力式微小試験機 MMTシリーズ

    電磁力式微小試験機MMTシリーズ

    マイクロサーボMMTシリーズは、負荷機構に高応答の電磁式アクチュエータを用いており、クローズドループ制御と組み合わせて、微小試験力・微小変位での高速・高精度の試験が可能です。電子部品・材料、の信頼性評価に威力を発揮します。

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  • 微小圧縮試験機 MCTシリーズ

    微小圧縮試験機MCTシリーズ

    島津微小圧縮試験機MCTシリーズは、ダイヤモンド圧盤で試料に負荷を与え、試験力と圧縮変位の関係を、リアルタイムに測定する試験機です。スペーサなどの液晶部材やプラズマディスプレイのリブなど、粒子単体または極小部の強度評価が可能です。

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  • フローテスタ(キャピラリーレオメータ) CFT-500EX / 100EX

    フローテスタ(キャピラリーレオメータ)CFT-500EX / 100EX

    フローテスタは細管式レオメータの一種で、樹脂の溶融粘度等を測定し、成形条件に必要なデータを提供します。通常の粘性測定装置では困難な熱硬化性樹脂の溶融粘度および硬化時間を容易に測定できます。電子デバイスで良く使われるエポキシ樹脂等の成形条件の決定にきわめて有効です。

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その他(熱分析、粒子解析、など)

  • 熱分析装置 DSC/DTGシリーズ

    熱分析装置DSC/DTGシリーズ

    島津熱分析装置は高分子材料の研究開発・品質管理分野において、材料のキャラクタリゼーション(物質の構造的な特徴を明らかにする)に必要不可欠な熱分析装置のひとつです。高性能・高機能な新材料開発のための分析を高い感度と簡単操作で実現します。

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  • ダイナミック粒子画像解析システム iSpect DIA-10

    ダイナミック粒子画像解析システムiSpect DIA-10

    iSpect DIA-10は、パーティクルカウンター、粒子径分布、粒子形状解析などの機能を1 台で実現しています。従来、粒子径分布測定装置や各種顕微鏡などの専用装置で測定していた「粒子画像解析」「粒子形状解析」「粒子径分布」「異物検出」「個数濃度」の測定をこの1台で測定できます。

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  • 遠心フィールドフローフラクショネーションユニット FFF-C8030

    遠心フィールドフローフラクショネーションユニットFFF-C8030

    遠心フィールドフローフラクショネーション*(遠心FFF)は、遠心力を利用してナノ材料をサイズ分級し、各種検出器で測定するシステムです。サイズが大きく異なる粒子が混在する試料でも、遠心FFFで粒子を分離しその分画を測定すれば、それぞれの粒子を正確に測定できるようになります。

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  • 原子吸光分光光度計 AA-7000シリーズ

    原子吸光分光光度計AA-7000シリーズ

    半導体の製造過程において、ウェハー表面に付着している微量金属を超純水や試薬により洗浄する手法が一般的に用いられています。この超純水中の極微量金属を測定に適しているのが、ファーネス(電気加熱)原子吸光分析法です。本法では注入量を増やすことにより高感度測定が可能になります。

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