X線光電子分光分析装置
プロダクトラインナップ
KRATOS Nova
3枚の大型試料プラテン自動交換機構により，測定のスループットを極限まで向上させたXPS装置です。最小分析径15μm，イメージ空間分解能 3μmの性能を持ち，幅広いユーザーのニーズに応えます。
KRATOS ULTRA2
様々な表面分析手法（XPS, UPS, AES, ISS...）に対応し，かつ豊富な試料前処理オプションを有しながら，高いスループットとイメージ空間分解能1μmの高い性能を併せ持つ複合型表面分析装置で...