X線光電子分光分析装置

プロダクトラインナップ

KRATOS Nova

3枚の大型試料プラテン自動交換機構により,測定のスループットを極限まで向上させたXPS装置です。最小分析径15μm,イメージ空間分解能 3μmの性能を持ち,幅広いユーザーのニーズに応えます。

KRATOS ULTRA2

様々な表面分析手法(XPS, UPS, AES, ISS...)に対応し,かつ豊富な試料前処理オプションを有しながら,高いスループットとイメージ空間分解能1μmの高い性能を併せ持つ複合型表面分析装置で...

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