iSpect DIA-10
ダイナミック粒子画像解析システム
ダイナミック粒子画像解析システム

iSpect DIA-10 は,島津製作所で長年培った粉体測定技術と画像解析技術を融合し,パーティクルカウンター,粒子径分布,粒子形状解析などの機能を1 台で実現しています。
従来,粒子径分布測定装置や各種顕微鏡などの専用装置で測定していた「粒子画像解析」「粒子形状解析」「粒子径分布」「異物検出」「個数濃度」の測定をこの1台で測定できます。

1万個中の1個の粒子も逃さず検出
iSpect DIA-10は画像解析式のため,1万個の粒子群に含まれる1個の粒子を解析することができます。そのため,わずかな量の粗大粒子も評価・管理することが可能です。
特長
アプリケーション
顔料粒子に粒子径50 µmのラテックス粒子を加えて測定した例を示します。
LIB正極材に使用される粉末を測定した例を示します。
金属部品洗浄用の溶剤に含まれる粒子の測定例です。
塗料中の異物の画像解析による評価-着色液の測定可能性と溶剤使用量の節減
着色液中のラテックス粒子の画像例です。
乳液の測定例です。
MEK に分散した油性塗料の測定例です。