iSpect DIA-10

ダイナミック粒子画像解析システム

顕微鏡による微小異物の検査・解析をより簡単・迅速・精確に

粉末中の粗大粒子や形状の異なる粒子などを検出,検査,解析するには粒子径分布測定装置各種顕微鏡などが必要です。
島津製作所は粒子径分布測定と画像観察の特長を合わせもつ,ダイナミック粒子画像解析システム iSpect DIA-10 をリリースしました。
これにより「異物検出」 ,「粒子画像解析」,「粒子形状解析」,「粒子径分布測定」,「個数濃度測定」をこの1台で行うことができます。

◆装置名称 ダイナミック粒子画像解析システム iSpect DIA-10
◆測定範囲* 5 ~ 100 µm
◆特長
  • 高い信頼性を持つ粒子検出システム
  • 今までにない機能/性能を標準搭載
  • 3ステップの簡単測定

*(面積円相当径の性能保証範囲。 当社指定のNISTトレーサブルな粒子径標準試料の測定による。)

 

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