iSpect DIA-10

iSpect DIA-10 は，島津製作所で長年培った粉体測定技術と画像解析技術を融合し，パーティクルカウンター，粒子径分布，粒子形状解析などの機能を1 台で実現しています。

従来，粒子径分布測定装置や各種顕微鏡などの専用装置で測定していた「粒子画像解析」「粒子形状解析」「粒子径分布」「異物検出」「個数濃度」の測定をこの1台で測定できます。

1万個中の1個の粒子も逃さず検出

iSpect DIA-10は画像解析式のため，1万個の粒子群に含まれる1個の粒子を解析することができます。そのため，わずかな量の粗大粒子も評価・管理することが可能です。

マイクロセル方式により，セルを通過するほとんどの粒子を観察することができるため，従来参考値でしかなかった個数濃度を実測値として，再現性高く測定することができます。

オートフォーカス機能により，面倒なピント合わせは不要です。オペレーターごとのデータのばらつきも防止でき，安定した測定が可能です。

①サンプルセット，②分析条件選択，③ファイル名入力の３ステップで測定結果を得ることができます。

顔料粒子に粒子径50 µmのラテックス粒子を加えて測定した例を示します。

LIB正極材に使用される粉末を測定した例を示します。

金属部品洗浄用の溶剤に含まれる粒子の測定例です。

着色液中のラテックス粒子の画像例です。

乳液の測定例です。

MEK に分散した油性塗料の測定例です。