ICP-AES分析の基礎

ICP発光分析装置(ICP)

Add Bookmark

本コンテンツでは、ICP発光分析装置（ICP-AES）の基本原理や装置内部の構成、分析方法、測定のノウハウなどをご紹介しています。

1. ICP-AES（ICP-OES）とは？
1.1. ICP-AES分析の概念
1.2. ICPとは
1.3. 分析対象元素
1.4. 各種元素分析法の比較
1.5. ICP-AESで分析できる試料
1.6. FAQ
2. ICP-AESの構成 - 試料導入
2.1. 試料導入
2.1.1. 試料の吸い上げ（自然吸引方式、ペリスタルティックポンプ）
2.1.2. ネブライザー
2.1.3. チャンバー
2.1.4. トーチ
2.1.5. プラズマの観測方式（軸方向観測と横方向観測）
2.2. FAQ
3. ICP-AESの構成 - 分光器・検出器
3.1. 分光器・検出器
3.1.1. 分光器（エシェル型分光器）
3.1.2. その他の分光器との比較
3.1.3. 検出器
3.1.4. 真空紫外域の波長（190 nm以下）の分析
3.2. FAQ
4. ICP-AESの分析方法
4.1. 定性分析
4.2. 定量分析（検量線法）
4.3. 検量線の作成の基本
4.4. 検量線の確認事項
4.5. ばらつきの確認
4.6. FAQ
5. ICP発光分析で注意すべき干渉の種類
5.1. 干渉の種類
5.2. 分光干渉
5.3. 非分光干渉
5.3.1. 物理干渉
5.3.2. イオン化干渉
5.3.3. イオン化干渉に対する観測方向の影響
5.4. FAQ
6. 干渉に対する補正法
6.1. バックグラウンド補正法（BG補正法）
6.2. 元素間補正法（Online IEC）
6.3. マトリクスマッチング法
6.4. 内標準補正法
6.5. 標準添加法
6.6. FAQ
7. 定量値の信頼性を確保するための確認方法
7.1. 添加回収試験を行う
7.1.1. 添加回収試験（処理後添加）
7.1.2. 添加回収試験（処理前添加）
7.2. 希釈試験を行う
7.3. メモリー試験を行う
7.4. 検量線の直線性・検出下限・定量下限を確認する
7.5. 精度管理溶液を使用する
7.6. 標準物質を分析する
7.7. 操作ブランクを作製する
7.8. FAQ
8. 分光干渉による測定誤差をなくす測定ノウハウ
8.1. 最適な波長を選択する
8.2. 分光干渉の有無を確認し、最適な補正を行う
8.2.1. マトリクス元素を確認する
8.2.2. 干渉元素を絞り込む
8.2.3. 干渉元素と干渉量を確認する
8.2.4. 適切な対処法を選択する
8.3. FAQ

製品情報

  • ICPE-9800シリーズ

    ICPE-9800シリーズ

    マルチタイプICP発光分光分析装置ICPE-9800シリーズは、濃度を問わず多元素の一斉・迅速分析を可能にする精確性と、分析を容易にするソフトウエアの簡便性を備えた次世代装置です。

ICP-AES関連アプリケーションとセミナー動画を探す