JPCA SHOW 2016 第46回国際電子回路産業展 会期:6月1日(水)~3日(金),東京

JPCA SHOW 2016 第46回国際電子回路産業展
電子回路部品の信頼性を高めるテクノロジー

平素は格別のご高配を賜り,厚くお礼申し上げます。
弊社は,電子回路部品の開発・評価から品質管理・検査に必要な各種電子デバイス解析・評価装置を幅広くご提供させていただいております。
今回は,高密度実装基板や電子部品の欠陥解析に威力を発揮する最新型のマイクロフォーカスX線透視装置をご紹介します。
ぜひお立ち寄りください。

会期 2016年6月1日(水)~3日(金)

10:00~17:00

会場 東京ビッグサイト 東5ホール 島津ブース 小間番号 5D-22
主催 一般社団法人日本電子回路工業会(JPCA)
JPCA SHOW 2016公式サイト
JPCA SHOW 2016 マップ

出展者(NPI)プレゼンテーション

「最新のX線透視/ CTシステムによる研究開発・不良解析の実例」
6月3日(金)12:10~12:40 NPIプレゼンテーション 会場B(東6ホール)

X線による非破壊検査の基礎から応用まで幅広く信頼性評価技術の事例を説明いたします。
半導体,照明,蓄電池,車載電子部品への解析技術を中心に最新のアプリケーション例を紹介します。
※無料 先着順となります。聴講ご希望の方は直接会場までお越しください。

ご紹介予定製品

X線透視とCT撮影をシームレスに融合
マイクロフォーカスX線透視装置
Xslicer SMX-6000

Xslicer SMX-6000は自社製マイクロフォーカスX線発生装置と高感度フラットパネル検出器を搭載したCT機能付きX線検査装置です。スムーズな切り替え操作 により透視観察と断面観察がすばやくできます。また,校正の完全自動化および高速撮影&再構成を実現する新型CT処理エンジン「Xslicer」 を搭載しています。ひずみのない高拡大かつ高解像度の画像で,電子デバイス等の平面形状品の微細な内部構造や欠陥を観察できます。

常識を覆す画質・進化した操作性
マイクロフォーカスX線CTシステム
inspeXio SMX-225CT FPD HR

inspeXio SMX-225CT FPD HRは自社製マイクロフォーカスX線発生装置と大型高解像度フラットパネル検出器を搭載した高性能マイクロフォーカスX線CTシステムです。広大な検出エ リア,最大1,400万画素相当の入力解像度,そして更なる改良を加えた高出力マイクロフォーカスX線発生装置によって,「高出力装置では軟素材のコント ラストは得られない」という常識を覆す,広視野・高解像度・高コントラストな断面画像を得ることができます。

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