EDX-LE

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 EDX-LE 一般分析機能追加キット(オプション)

RoHS/ELVスクリーニング専用機のEDX-LEで一般分析機能がお使い頂けます!

EDX-LEに一般分析機能を追加!

導入後の特長
1. RoHS/ELV対象元素以外の同定分析や定量分析が可能!
2. 分析目的に応じた詳細分析条件や解析条件の作成が可能!
3. 薄膜FP法を用いた多層膜の膜厚や組成,付着量分析が可能!
4. マッチング機能を用いた鋼種判別や品種判別が可能!

詳細は当社営業までお問い合わせ下さい。

一般分析機能追加キット(オプション)

機能追加キットを用いた分析例

機能追加キットを用いた分析例

分析例(左:ステンレス鋼の定性・定量分析,右:めっきの膜厚測定)

マッチング(鋼種判別,品種判別)

注)試料材質,膜材質や膜厚さによっては本キットで適用できない場合があります。

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