分析計測機器
Analytical and Measuring Instruments
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SPM/AFM Solutions Plaza
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走査型プローブ顕微鏡(SPM)/原子間力顕微鏡(AFM)による様々な分野の観察画像およびアプリケーションニュースを紹介します。
フロッピーディスク
カーボン抵抗体
銅板
トナー粒子 位相・電位
ハードディスク(1)
ハードディスク(2)
シリコンインクを用いた 低コスト量子ドット太陽電池
リチウムイオン電池 電極の電流測定
強誘電体(TGS)の ドメイン
強誘電体(TGS)劈開面(1)
強誘電体(TGS)劈開面(2)
強誘電体(TGS)劈開面(3)
有機薄膜トランジスタ (OFET)の電位解析
シリコンウェハ
LSI
圧電材料のミクロな 分極ドメインの可視化
圧電材料のミクロな 圧電応答の可視化
Siパターン基板の 8K高画素観察
高性能な光学顕微鏡を 内蔵した走査型プローブ顕微鏡
全固体LiBの 大気非暴露測定
全固体リチウムイオン電池活物質の充電状態評価
二次電池、負極添加剤の 電解液中観察
光触媒:金ナノ粒子 集合体の光誘起電荷分布の可視化
ハードディスク表面の マイクロラフネス測定
含水性レンズの多角的評価
LiBバインダーの 電解液中観察
電池電極を模した 黒鉛試料の電流分布
MWNT/SWNT透明導電 塗料膜の観察
SWCNTの金属リッチと 半導体リッチ試料の形態 とI/V特性
Fullerene on CNT複合体 の形態とI/V特性
印刷紙の形状観察
全固体リチウムイオン 電池正極の電流・電位評価
表面観察装置