分析計測機器
Analytical and Measuring Instruments
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SPM/AFM Solutions Plaza
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走査型プローブ顕微鏡(SPM)を用いることで、ハードディスクのアルミ基板上に形成されたテクスチャー(左)とレーザーバンプ(右)が明確に観察されています。寸法の統計的処理も可能です。
表面観察装置