ハードディスク(2)
SPM/AFM Solutions Plaza

走査型プローブ顕微鏡(SPM)を用いて、ハードディスクを観察しました。
表面形状像(左)では基板上につけられたテクスチャーが、MFM像(右)では同じ視野での磁気情報が観察されています。
(MFMシステム使用)
SPM/AFM Solutions Plaza
走査型プローブ顕微鏡(SPM)を用いて、ハードディスクを観察しました。
表面形状像(左)では基板上につけられたテクスチャーが、MFM像(右)では同じ視野での磁気情報が観察されています。
(MFMシステム使用)