SALD-7500nano

・測定範囲7nm～800μmの粒子の変化を，単一光源，単一光学系および単一の測定原理で，切れ目なく連続的に測定できます。
・一次粒子から凝集体，コンタミまでを一台の装置で測定できるので，分散条件などによる凝集特性を幅広い範囲で確認できます。

測定対象となる粒子径範囲をひとつの測定原理，ひとつの光学系，ひとつの光源でカバーし，完全にシームレスなシングルワイドレンジを実現。複数光学系の組み合わせによるデータの不連続が発生せず，ひとつのスタンダードで，全測定範囲にわたり常に正確な粒子径分布を測定することができます。
しかも，高度な散乱光強度追跡技術に基づくSLIT光学系を採用することによって，従来の常識を打ち破り60度までの広角度の前方散乱光を一つの検出面で連続的に検出できるようになりました。これにより微粒子領域における高い分解能が得られるようになりました。
* SLIT（Scattered Light Intensity Trace，散乱光強度追跡）

屈折率自動計算機能を搭載 レーザ回折・散乱法では避けて通れない屈折率の選択については，文献値を入力する方法などが一般的でしたが，粒子組成や形状の影響から必ずしも妥当とは言えませんでした。そのため，トライ＆エラーによる屈折率の選択という煩雑な作業も行われてきました。このような問題を解決するためにLDR法（Light Intensity Distribution Reproduction Method，光強度分布再現法）に基づいて妥当と思われる屈折率を自動計算する機能を世界で初めて搭載しました。
トップ5（第1番目から第5番目まで）の屈折率の候補が評価ポイントとともに表示され，その屈折率を用いた場合の粒子径分布もサムネイルとして表示されます。評価ポイントとサムネイルを参考に妥当な屈折率を選択することができます。
主要物質については，リストから屈折率を選択することができます。
※ LDR法は，実測された光強度分布と粒子径分布データから再現（再計算）された光強度分布との一致性から妥当な屈折率を自動計算する手法です。これは弊社が開発した手法で，2件の論文として発表され，「木下の手法」と呼ばれることもあります。