SALD-7500nano - 仕様

ナノ粒子径分布測定装置

ハードウェア仕様

全般

測定原理	レーザ回折・散乱法
測定範囲	7 nm（0.007 μm）～ 800 μm（多機能サンプラ使用時） 7 nm（0.007 μm）～400 μm（回分セル使用時） 30 nm（0.03 μm）～280 μm（高濃度測定ユニット使用時）

注1）測定範囲は，粒子の形状等の性質に依存します。

本体（測定部）：SALD-7500nano

光源	半導体レーザ（波長405 nm）
受光部	半導体レーザ用検出素子採用　合計84素子（前方78，側方1，後方5）
規格	クラス1レーザ製品
所要電源	AC100V±10%，1A，50/60Hz
大きさ・重さ	約W680×D280×H430 mm，約32kg
使用環境	温度：10～30℃，湿度：20～80％（結露しないこと）

注2）USBケーブル（2 m），参照試料を標準付属
注3）参照試料の測定には，70～200 W程度の超音波洗浄機が必要となります。超音波洗浄機は特別付属品としてご用意しております。（超音波洗浄機，100 W）

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多機能サンプラ：SALD-MS75

分散槽	容量：100 / 200 / 300 mL
超音波発振器	周波数：約32 kHz，出力：約40 W
送液ポンプ	ラジアルポンプ（最大流量：2000 cm³/min）
送液部材質	ステンレス（SUS304，SUS316），四フッ化エチレン（PTFE），パーフロロエラストマー（FEP）
給水ポンプ	ダイヤフラムポンプ（最大流量：750 cm³/min）
給水ポンプ材質	ポリプロピレン
フローセル	石英ガラス
所要電源	AC 100 V±10%，2 A，50/60 Hz
大きさ・重さ	約W390 × D520 × H430 mm，約18 kg
使用環境	温度：10～30℃，湿度：20～80％（結露しないこと）

注4）USBケーブル（2 m）を標準付属

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回分セル：SALD-BC75

材質	石英ガラス
必要液量	約5 cm³
攪拌機構	攪拌プレートの上下運動による
大きさ・重さ	約W100 × D120 × H140 mm，約0.8 kg
使用環境	温度：10～30℃，湿度：20～80％（結露しないこと）

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高濃度測定ユニット：SALD-HC75

材質	ほう珪酸ガラス
必要液量	約0.15 cm³
大きさ・重さ	約W20 × D100 × H9 mm，約0.2 kg
使用環境	温度：10～30℃，湿度：20～80％（結露しないこと）

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ソフトウェア仕様

WingSALD II : 測定およびデータ処理

粒子径分布測定	マニュアルモード・アシストモードの2モード
屈折率自動計算機能	LDR法（Light Intensity Distribution Reproduction Method）による物質名指定または範囲指定をして自動計算
リアルタイム表示	粒子径分布／光強度分布同時表示
粒子径分布再計算	最大200データ一括計算　および　単一データ個別計算
粒子径分布データ表示	最大200データ重ね描き　および　単一データ
光強度分布データ表示	最大200データ重ね描き　および　単一データ
診断・調整	自己診断機能，セルチェック機能
統計処理	最大200データ（最大200データの重ね描きも可能）
時系列処理	最大200データ
三次元表示	最大200データ
クリップボードによるデータ転送	イメージ出力，テキスト出力
データのソーティング	ファイル名，サンプルID，サンプルNo. または屈折率の順番で並べ替え

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WingSALD II : 出力条件

粒子径μm）分割数	固定101分割／51分割　または　任意（ユーザー設定可能）51分割
粒子量（％）分割数	固定51分割　または　任意（ユーザー設定可能）51分割
分布基準	個数，長さ，面積，体積
積算分布の表現	フルイ上，フルイ下
頻度分布の表現	ｑ，ｑ／Δｘ，ｑ／Δlogｘ
スムージングレベル	10レベル
分布関数のあてはめ	ロジンラムラー分布，対数正規分布
データシフト	±10レベル
レポート機能	単一データ（テンプレート6），重ね描きデータ（テンプレート5），統計データ，時系列データ，三次元データを選択して一括出力可能

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WingSALD II : データ解析機能

散乱角評価機能	最大200データ重ね描き　および　単一データ
データ変換機能	他機種・他原理の粒子径分布データのエミュレーション
混合シュミュレーション機能	最大6点
データ接続機能	2データを接続可能
連続測定機能	最短1秒間隔で最大200データの連続測定が可能

注5）LDR法（Light Intensity Distribution Reproduction Method）は実測された光強度分布パターンと粒子径分布データから再現（再計算）された光強度分布データの一致性から屈折率を計算する手法です。
これは弊社が独自に開発した手法であり，2件は論文として発表されています。学会などでは「木下の手法」と呼ばれています。
注6）ソフトウェアはPCセットでの販売となります。

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