・専用設計の光学系による高い光学性能
・微細な構造から透明なものまで見えないものを可視化
3D測定レーザー顕微鏡
白色干渉計搭載 3D測定レーザー顕微鏡OLS5500は、レーザー顕微鏡、白色干渉計、フォーカスバリエーションという3つの技術を1台に統合した高性能なプラットフォームです。本製品は、研究開発や品質保証、品質管理などの現場におけるニーズにお応えするために設計されています。微細な表面形状の詳細な観察、トレーサブルな高精度測定、そして直感的に操作できるユーザーインターフェースを通じて、日々の業務の効率化と品質向上を力強く支援します。
信頼性の高い測定精度、そしてスマートな自動化機能によって得られる「確かなデータ」が、あたり付けから詳細解析までのプロセスをスムーズに進めることを可能にします。
カラー撮像光学系では、白色LED光源とCMOSカメラを用いて色情報を取得します。これにより、色の再現性に優れ、表面の特徴を鮮明に可視化することが可能です。
レーザー共焦点光学系では、波長405 nmの半導体レーザー光源と高感度の光検出器(フォトマルチプライヤー)を用いて共焦点画像を取得します。
白色干渉法では、白色光源からの光が対物レンズ内のビームスプリッターによって分割され、サンプル表面と参照面の両方から反射されたときに生成される干渉縞から高さ情報を取得します。
フォーカスバリエーションでは、画像のコントラスト値を用いて高さ情報を取得します。
白色干渉計搭載 3D測定レーザー顕微鏡OLS5500の構成
OLS5500に搭載された各種表面形状測定技術は、サンプルの形状や微細な表面性状の観察・測定において、それぞれ独自の強みを発揮します。
平面及び垂直方向ともに高分解能の測定が可能です。サブミクロンから数百ミクロンまでの微細な表面性状の形状取得に適しており、急峻な斜面形状も検出できます。
なだらかな平滑面や、ナノオーダーの高さ形状測定に適しています。対物レンズの倍率によらず、どの倍率でも一定の高い垂直方向の測定分解能が得られます。
凹凸の大きい立体形状を短時間で測定することが可能です。サンプル全体のマクロ形状取得に適しており、レーザー顕微鏡や白色干渉計と組み合わせることで、マクロからミクロまでの形状取得ができます。
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走査電子顕微鏡 SUPERSCAN SS-2000を発売
SS-2000は、使いやすさと高効率な観察・分析を実現したタングステンフィラメントタイプの走査電子顕微鏡です。低真空モードも標準搭載しているため、非導電性の試料を含む様々な素材に対して、ミクロの領域での観察・分析を容易に行うことができます。
走査電子顕微鏡 SUPERSCAN SS-3000を発売
SS-3000は、ビーム減速機構と低真空モードを標準搭載した高分解能走査電子顕微鏡です。金属材料から、ビームダメージに弱いソフトマテリアルや非導電性の材料に至るまで、様々な素材について詳細な形態観察や組成分析が可能です。
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走査電子顕微鏡 SUPERSCAN SS-4000を発売
SS-4000は、生体試料やソフトマテリアルなどの非導電性の試料やビームダメージに弱い試料もナノの領域で観察できる走査電子顕微鏡です。低加速または低真空の観察条件において、特に優れた性能を発揮します。