ダイナミック粒子画像解析システム

ダイナミック粒子画像解析システム

iSpect DIA-10 は,島津製作所で長年培った粉体測定技術と画像解析技術を融合し,パーティクルカウンター,粒子径分布,粒子形状解析などの機能を1 台で実現しています。

従来,粒子径分布測定装置や各種顕微鏡などの専用装置で測定していた「粒子画像解析」「粒子形状解析」「粒子径分布」「異物検出」「個数濃度」の測定をこの1台で測定できます。

1万個中の1個の粒子も逃さず検出

1万個中の1個の粒子も逃さず検出

iSpect DIA-10は画像解析式のため,1万個の粒子群に含まれる1個の粒子を解析することができます。そのため,わずかな量の粗大粒子も評価・管理することが可能です。

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