iSpect DIA-10

ダイナミック粒子画像解析システム

粒子径分布だけではわからない
粒子のさまざまな解析をこの1 台で

iSpect DIA-10 は,弊社で長年培った粉体測定技術と画像解析技術を融合し,「粒子画像解析」,「粒子形状解析」,「粒子径分布測定」,「異物検出」,「個数濃度測定」が最短2分,1 回の測定で行えるシステムです。

パーティクルカウンター,粒子径測定装置,粒子形状測定装置などの機能を1 台で実現します。

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