劣化解析・不具合評価セミナー 2019資料ダウンロード

 

先日は、お忙しい中『劣化解析・不具合評価セミナー 2019』にご参加いただき、ありがとうございました。

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講演1.FTIRによる有機物の劣化・不具合解析

赤外スペクトルでは物質の構造情報が得られ,劣化・不具合の解析に有用です。また,マクロ,ミクロの領域の測定が可能です。これらの事例をご紹介します。

 

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講演2.熱分析による熱特性評価と不具合解析

 

熱分析の代表手法であるDSC(示差走査熱量計)やTG(熱重量計)を用い,分解や融解過程の測定による主に高分子試料の特性評価や不具合解析の事例をご紹介します。

 

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講演3.XPSによる試料劣化解析

 

XPS(X線光電子分光分析装置)の化学結合状態が解析できる特長を利用して,試料の劣化に対してどのような解析できるかのアプリケーション事例をご紹介します。

 

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講演4.LSMとSPMによる形状検査と表面粗さ測定

 

走査型レーザー顕微鏡(LSM)および走査型プローブ顕微鏡(SPM)を用いた形状検査と表面粗さ測定について,劣化解析に関するアプリケーション事例と共に最新技術をご紹介します。

 

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講演5.EPMAによる微小部の劣化・不具合解析

 

腐食・酸化・疲労破断といった微小部の劣化や不具合評価にEPMA(電子線マイクロアナライザ)は有用であり,SEM+EDSと比較しつつアプリケーション事例をご紹介します。

 

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本ページに関してのお問合せ先

株式会社島津製作所 分析計測事業部 グローバルマーケティング部
(TEL:03-3219-5588 / FAX:03-3219-5557)

 
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