島津 製薬規制対応セミナー~ 残留溶媒,元素不純物,Data Integrityについて ~会期:5月17日(水) ,神奈川

近年,医薬品の品質に関する規制は厳しさを増しており,原薬・添加剤および製剤中の不純物を解析・評価するための確実な分析技術の確立・習得が求められるようになってきています。
本セミナーでは,医薬品中の元素不純物管理の分析法,第十七改正薬局方における残留溶媒試験に関するトピックス,およびData Integrityに関する動向とその対応について紹介します。
ご多忙とは存じますが,ぜひご来場賜りますようご案内申し上げます。

主催:(株)島津製作所 横浜支店
日   程 2017年5月17日(水) 10:00~17:00  (受付・開場 9:30~)
会   場 株式会社島津製作所 グローバルアプリケーション開発センター(秦野)
神奈川県秦野市堀山下380-1 小田急 渋沢駅より徒歩約20分会場アクセス
定   員 40名
参 加 費 無料 (昼食は当社にてご準備いたします。)
お申込み 参加ご希望の方は「 参加申込書 」(PDF 948KB)に必要事項をご記入の上,FAXにてお申込みください。(FAX 045-314-2569,(株)島津製作所 横浜支店 分析計測営業課  夏目宛)
受付後,参加票をFAXで返信申し上げます。
(*)恐れ入りますが,1名様/1社でのお申込みをおねがいいたします。

 

セミナープログラム  
時間 セミナー内容
 9:30 ~  受付開始
 10:00
 ~12:00
 Data Integrity(データの完全性)の対応について
 近年世界的に取り組みが進められているData Integrityに関する最新動向とそのポイントについて解説致します。分析データの改ざんや差し替えによるData Integrity欠落への対応策についてもご紹介いたします。
 13:00
 ~13:45
 ICP-AES, ICP-MSによる医薬品中元素不純物の分析
 元素不純物の測定法として,ICP-AES,ICP-MSがあります。ICP-AES,ICP-MSの原理・特徴,装置の使い分け,試料前処理,測定における留意点などをご紹介します。
 13:45
 ~14:30
 エネルギー分散型蛍光X線による医薬品材料中の元素不純物測定
 前処理を軽減する方法として,蛍光X線分析法を用いた化学分析前のスクリーニング法をご提案いたします。
 14:30
 ~15:15
 第十七改正薬局方(USP)に準じた医薬品残中溶媒分析の実際
 一般的な残留溶媒から,2017年秋に規制拡大されるClass2溶媒の分析時の注意点やノウハウについて,より信頼性の高い結果を得るためのポイントについてご紹介いたします。
 15:30
 ~17:00
 実機を用いたデモンストレーション
 エネルギー分散型蛍光X線,ICP-MSおよびヘッドスペースGCの実機をご見学いただきます。
 
 タイムスケジュールは多少前後する場合がございます。予めご了承ください。

展示予定製品

 ご連絡先  (キャンセル・お客様変更など)
 (株)島津製作所 横浜支店 分析計測営業課 夏目
     (TEL:045-311-4106 / FAX:045-314-2569)

年別一覧

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