島津 新技術セミナー＆展示会
会期:10月20日（木），宮崎

『 ICP分析での測定値の正しい見方　～干渉に関する考え方～ 』
　ICP発光分光分析法は多元素を迅速に分析できますが，共存元素やバックグラウンド成分による干渉が誤差要因となることがあります。本セミナーでは，測定された値に対するスペクトル干渉などの干渉の考え方と，その補正方法を紹介します。

 『 FTIR・赤外顕微鏡による異物/不良解析 ～自動不良解析システムの活用～ 』
　自動不良解析システム/赤外顕微鏡を活用した異物/不良解析事例を中心に，測定手法やスペクトル解析のコツなど異物解析のテクニックとポイントを紹介します。合わせて新製品「EDX-FTIR統合解析ソフトウェア」の概要と特長も紹介します。

 『 GC/MSを利用した定性解析に朗報！マススペクトルに，保持指標・分子量・精密質量を組み合わせた手法をご紹介　 』
　GC/MSのEIマススペクトルは，豊富なフラグメントイオンが得られることから定性解析目的でGC/MSが利用されています。これらの化合物の同定は通常マススペクトルライブラリを用いて行われていますが，異性体など類似したマススペクトルが多数検索されたり，マススペクトルライブラリに登録されていない場合，化合物同定に経験を要します。 本セミナーでは，マススペクトルに加えて，保持指標，分子量情報，精密質量を組み合わせて利用した定性解析の手法をご紹介させていただきます。