
走査型プローブ顕微鏡(SPM)製品比較
走査型プローブ顕微鏡 (Scanning Probe Microscope)
より広い範囲の観察ができます。
X・Y : 30 μm Z : 5 μm
同軸落射照明(標準付属)以外に斜め からの照明が必要な時に使用します。
液中観察に使用します。
専用カンチレバーホルダが付属します。
床置きのパッシブ除振台です。 空気源が必要です。
卓上型のアクティブ除振台です。 電源のみで動作します。
専用の架台をセットしたアクティブ除振台です。
データ処理装置用のテーブルです。 縦型の選択も可能です。
画像データから複数の粒子を抽出し,各粒子に対する特徴量を解析できます。
試料やカンチレバーの帯電を 除去する際に使用します。