SmartLab SE （株式会社リガク製）

経験がなくてもさまざまな粉末Ｘ線回折測定ができる

強力なユーザーガイダンス機能を備えたＸ線分析統合ソフトウェア「SmartLab Studio II」が，測定から解析までを支援します。リガクの分析ノウハウに基づいて，ソフトウェアが最適な光学系を提案し，光学系の調整や測定条件の設定を自動で行います。粉末プロファイル測定や微小部・In-situ測定など，幅広い粉末Ｘ線回折測定が可能です。

広角粉末Ｘ線回折プロファイルをわずか数分で測定

高分解能・高速1次元Ｘ線検出器D/teX Ultra 250を搭載したエントリーモデルは，高速集中法測定に対応しています。バックグラウンドレベルを抑えた測定が可能で，強度積算効果により微量成分の検出も容易です。

2次元Ｘ線回折測定で拡がる世界

ハイブリッド型多次元ピクセル検出器HyPix-400を搭載した上位モデルは，微小部やIn-situ測定に対応しています。さらに，粒径や配向といった試料状態の情報が容易に取得できます。今まで気づかなかったことが，粉末Ｘ線回折測定で得られる知見の幅を大きく拡げます。

あらゆる測定シーンに対応

光学系選択ユニット（Cross Beam Optics）と光学系・試料位置自動調整プログラムが，簡単，かつ迅速な光学系切り替えを実現します。分析の目的や試料の形状jに応じて，最適な光学系・アタッチメントを選択できます。

さまざまなアプリケーションを実現

反射法・透過法による測定，ポリキャピラリを用いた微小領域測定，小角Ｘ線散乱測定，残留応力・極図形測定など，さまざまなアプリケーションを実現する多彩な光学系配置を用意しました。SmartLab SEはそれらの光学系調整も自動で実現します。

統一された操作性によるスムーズな分析環境を実現

「SmartLab Studio II」により，分析に必要な光学系管理や測定といった装置制御からデータ解析まで，一つのソフトウェア上で行えます。光学系のセンシング，ガイダンス機能，フローバーによるナビゲーションなど，ユーザーの使い勝手が大きく向上しています。

豊富なアタッチメント・試料ホルダー

6試料自動交換機，10試料自動交換機，キャピラリ回転試料台，αβアタッチメント，電池セルアタッチメント，各種温調アタッチメント，汎用雰囲気セパレーター，無反射試料ホルダー，透過法用試料ホルダーなどを用意しています。