SPM-Nanoa - 仕様

走査型プローブ顕微鏡/原子間力顕微鏡

多彩な拡張機能

分解能

XY : 0.2 nm
Z : 0.01 nm

SPMヘッド

変異検出系:光源/光てこ/検出器
光源:レーザーダイオード
検出器:フォトディテクター

スキャナ

最大走査範囲(X・Y・Z)

標準:10 μm × 10 μm × 1 μm
オプション:30 μm × 30 μm × 5 μm
オプション:125 μm × 125 μm × 7 μm
オプション:55 μm × 55 μm × 13 μm
オプション:2.5 μm × 2.5 μm × 0.3 μm

試料ステージ

試料最大形状 :ø50mm×8mm
        ø50mmの場合は試料の中心部のみ観察可能
試料交換方式:試料ステージ駆動方式
試料固定方式:マグネットによる固定
最大可動範囲:X・Y:±5mm
       ø40mm以下の試料をスキャナ中心に設置した時

Z軸粗動機構

最大可動範囲:10 mm(電動)

光学顕微鏡観察

総合倍率:約220倍~ 1300倍
     (21.5インチモニタに最大表示した場合)
粗動:XY:手動 Z:電動(自動フォーカス機能あり)
照明:同軸落射照明(自動調光機能あり)

ステータスインジケータ

表示:動作状態を色別に表示

除振機構

方式:ゲルダンパをユニットに内蔵

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設置仕様

設置室の環境

設置室の望ましい空調条件は次の通りです。

温度:23°C±5°C
湿度:60%以下(結露しないこと)

電源

本装置の運転には,次の電源が必要です。

単相:AC100 V-240 V 50/60 Hz 15 A 1口
接地:D種接地

装置の大きさと重さ

設置室の望ましい空調条件は次の通りです。

顕微鏡ユニット:W220×D370×H520 mm 24 kg
制御ユニット:W190×D400×H440 mm 14 kg

*PCとモニターはオプションです

制御ユニット

スキャンコントローラ

X・Y軸制御 : ±210 V 常時16 bit分解能
Z軸制御 : ±210 V 最大26 bit分解能

通信インターフェイス

形式 : TCP/IPプロトコル

ソフトウェア

インターフェイス

使用言語 : 日本語,英語,中国語から選択

オンライン

観察画面表示 : 最大8画面同時表示
走査範囲 : 0.1 nm~最大走査範囲(装着したスキャナに依存)
走査速度 : 0.01 Hz~100 Hz( 観察条件に依存)
観察画素数 : 2×32 ~ 8192×8192(画面中央で矩形走査可能)
走査条件設定 : フィードバックゲイン,走査速度などの自動設定可能
データ量 : 約128 MB~64 kB/画面

オフライン

一覧表示 : サムネイルによる一覧表示
画像データ表示 : 濃淡(トップビュー)表示、三次元表示など画像上での測長可能
画像処理 : 傾き補正,ノイズライン除去,局所フィルタ,周波数フィルタ,画像拡大,画像反転,画像回転,解像度変換,ライン抽出,マクロ機能など
画像解析 : 断面形状解析,線粗さ解析,面粗さ解析,形態解析,平均段差測定,パワースペクトル解析,自己相関解析,フラクタル解析,ラインデータ解析,ラインデータ粗さ解析,粒子解析(オプション)など
ファイル出力 : DIBフォーマット(ビットマップ),TIFFフォーマット,ASCIIフォーマット

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