SPM/AFM用 粒子解析ソフトウェア
走査型プローブ顕微鏡 (Scanning Probe Microscope)
粒子解析ソフトウェアは、SPM/AFMの画像データから複数の粒子を抽出し、個々の粒子に対して特徴量を計算し、それらを解析、表示し、統計的に扱う場合に威力を発揮します。
シリカナノ粒子の粒子径解析

高さ像

粒子の抽出

粒子径分布をヒストグラム表示
セルロースナノファイバーの繊維長解析

高さ像

繊維の抽出

周囲長分布をヒストグラム表示
大腸菌の粒子径解析

高さ像

粒子の抽出

絶対最大径と針状の度合いを相関グラフ表示
薄膜の粒子径解析

高さ像

粒子の抽出

平均半径をヒストグラム表示
観察データから多数のナノ粒子・ナノファイバーを抽出し、粒子径や周囲長をはじめとする特徴量を計算することができます。繊維長は周囲長の半分として計算します。多数の試料について統計的に特徴量がわかるので、形状に関する品質管理にもご活用いただけます。
以下に示す豊富な特徴量と各特徴量に対する統計量を算出し、一覧表示、並べ替え、グラフ表示が可能です。数値データは外部転送が可能です。
特徴量
- 重心X
- 重心Y
- 絶対最大径
- パターン幅
- 水平フェレ径
- 垂直フェレ径
- 円相当半径(穴を除く)
- 円相当半径(穴を含む)
- 平均半径
- 平均半径のばらつき
- 重心間の最小距離
- 周囲長
- 包絡周囲長
- Zの最大値
- Zの最小値
- Zの平均値
- 粒子の周りのZの平均値
- 穴を除く面積
- 穴を含む面積
- 表面積
- 体積
- パターン方向
- 2次元慣性モーメントの主軸角度
- 占有率
- 面積率
- 偏平率
- 丸さの度合
- 凹凸の度合
- 針状の度合
統計量
- 平均
- 標準偏差
- 長さ平均
- 面積平均
- 体積平均
- 合計
- 最大値
- 最小値
- 最大値のラベル番号
- 最小値のラベル番号
- 範囲
- 粒子数
News / Events
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LiB Webinar 2025 DAY1
配信日:2025年2月27日 (木) 13:00 ~ 15:15
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走査電子顕微鏡 SUPERSCAN SS-4000を発売
SS-4000は、生体試料やソフトマテリアルなどの非導電性の試料やビームダメージに弱い試料もナノの領域で観察できる走査電子顕微鏡です。低加速または低真空の観察条件において、特に優れた性能を発揮します。
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次世代モビリティWebinar
~軽量化とコストダウンを実現する新技術のベンチマーク~配信日:2025年1月21日 (火) 14:00 ~ 15:35
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走査型プローブ顕微鏡 SPM-9700HT Plusを発売
走査型プローブ顕微鏡は、試料表面の三次元形状や局所的物性を高倍率で観察できます。SPM-9700HT Plusは、ハイスループット観察をさらに進化させました。
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SPM/AFM Solutions Plazaを公開しました
「SPM資料室」が新たに「SPM/AFM Solutions Plaza」としてリニューアルオープンしました。ライフサイエンス、食品、化学などの幅広い分野に関連するアプリケーションや論文を一堂に集めています。ぜひご覧ください。
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最新の水道規制の動向と水道分析関連製品のご紹介
会期:2024年10月15日 (火) 川崎 13:00開場,2024年10月29日 (火) 京都 13:00開場