
SPM-Nanoa
- 8K高画素観察により、一度に広域観察と高精細な解析を行うことができます。 - 高精細画像を用いた面粗さ解析により、わずかな粗さの違いを捉えることができます。
走査型プローブ顕微鏡[SPM(AFM)]は、大気中で簡便にナノレベルの高分解能観察ができるツールとして、ナノ粒子やソフトマテリアルなどに幅広く使用されています。近年は、マクロな構造とミクロな構造を合わせ持つ材料もでてきており、一度に両方の構造観察を行うことが求められています。しかし、従来のSPMの広域観察では画素数が不足していたため、画像拡大時の高精細な解析が困難でした。 本報では、8K高画素観察を実現したSPM-Nanoaを用いて、広域観察と高精細な解析を両立した事例をご紹介します。
2021.02.24
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