SALD-7500nano

ナノ粒子径分布測定装置

特長(装置)

広角60度までの前方散乱光を一つの検出面で連続的にキャッチ

SLIT光学系

測定対象となる粒子径範囲をひとつの測定原理,ひとつの光学系,ひとつの光源でカバーし,完全にシームレスなシングルワイドレンジを実現。複数光学系の組み合わせによるデータの不連続が発生せず,ひとつのスタンダードで,全測定範囲にわたり常に正確な粒子径分布を測定することができます。
しかも,高度な散乱光強度追跡技術に基づくSLIT光学系を採用することによって,従来の常識を打ち破り60度までの広角度の前方散乱光を一つの検出面で連続的に検出できるようになりました。これにより微粒子領域における高い分解能が得られるようになりました。
* SLIT(Scattered Light Intensity Trace,散乱光強度追跡)

高感度WingセンサIIを採用

最高水準の半導体製造技術によって作られた78素子の前方散乱光センサ(WingセンサII)を採用。変動の激しい前方微小角散乱を高分解能に,光強度の微弱な広角散乱を高感度で検出することができます。さらに側方散乱光センサ1素子,後方散乱光センサ5素子を配置しており,この合計84素子の光センサで光強度分布パターンを正確にキャッチすることによって,広い粒子径範囲にわたって,高分解能で高精度な粒子径分布測定を実現しています。

光学系の安定性を追求

全方位衝撃吸収機構: OSAF(Omni directional Shock Absorption Frame)を採用,実験台とフレーム間,フレームと光学系間の2段階で衝撃を吸収する機構を設けることによって,光学系の全ての要素を外部からの振動や衝撃から隔離・保護しています。また,測定部内部にもモータなどの振動源は一切ありません。このため光軸調整はほとんど必要ありません。

自己診断機能の搭載でメンテナンスが容易

強力な自己診断機能を組み込みました。各種センサ/検出素子の出力信号や装置の動作状況がチェックでき,メンテナンスが容易になりました。また,オペレーションログ(Operation Log)機能により,すべての測定データには,装置の使用状況やセルの汚れの状態などきめ細かな情報が同封されており,過去にさかのぼってデータの妥当性を検証することができます。また,セルの汚れ具合の確認も可能です。

レーザ回折法 ISO13320/JIS Z 8825-1 準拠

SALD-7500nanoは,レーザ回折・散乱法の規格ISO 13320およびJIS Z 8825-1に準拠しています。

JIS標準粒子でバリデーションが可能

装置性能を確認するためのサンプルには,JIS Z8900-1で規定される標準粒子「MBP1-10」を使用することができます。このサンプルは,広い粒子径分布を持ち,その分布がJISで規定されています。このサンプルを使用することで,装置が常に正確な状態であることを検証できます。

光強度分布データから測定結果の妥当性を検討可能

同一画面に,光強度分布データ(生データ)と測定結果(粒子径分布データ)を表示できるので,両方のデータを参照しながら測定結果を検証することができます。
検出信号のレベル(粒子濃度)が適正かどうかの検証だけでなく,分布幅の広さや凝集体やコンタミ成分の存在などを多角的に検討し測定結果の妥当性を確認できます。

選べるシステム構成で多様なニーズに対応

幅広い用途,目的,測定対象と,多様な測定環境,測定条件に合わせて多彩なシステムを構成できます。

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