SPM観察例 金属 No.9 金属粒界
鋭敏化熱処理したSUS304試料表面の粒界を観察しました。左がAFM凹凸像、 右がKFM電位像です。
組成の差に起因して、KFM像において粒界部分の電位が 周辺よりも80mV程度高く測定されています。
（早稲田大学 理工学術院 物質開発工学科 酒井潤一先生ご提供）
鋭敏化熱処理したSUS304試料表面の粒界を観察しました。左がAFM凹凸像、 右がKFM電位像です。
組成の差に起因して、KFM像において粒界部分の電位が 周辺よりも80mV程度高く測定されています。
（早稲田大学 理工学術院 物質開発工学科 酒井潤一先生ご提供）