分析計測機器
Analytical and Measuring Instruments
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SPM/AFM Solutions Plaza
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浮遊粒子サンプラSSPM-100によって捕集された大気中浮遊粒子の凹凸像です。約60nmの一次粒子が結合して、200nmクラスの二次粒子となっている様子が鮮明にとらえられています。
表面観察装置