分散剤

走査型プローブ顕微鏡（SPM）を用いて、高分子材料中の分散剤の分布状態を観察しました。表面電位像（右）では、材料の違いによる電位差が観察されており、表面形状（左）以外の物性的な差が画像化されています。
（Qコントロールシステム使用）