分析計測機器
Analytical and Measuring Instruments
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SPM/AFM Solutions Plaza
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表面形状像(左)/LFM像(右) 保持具で挟み込み、断面を出して観察しました。LFM像では、分子量の差に起因する摩擦力の大小により、断面の層構造が現われています。
表面観察装置