CNTの観察と電位測定
CNTの観察と電位測定
SPM(走査プローブ顕微鏡)を用いたEFM像（表面電位像）により、CNTとその周辺の電位が測定できます。
図1はSWNT/アクリル樹脂 8wt% 試料の 凹凸像とEFM像測定例です。
図2もEMF測定例です。試料は、精製 単層CNT（HiPco)とDNA溶液を混合してマイカ基盤上にスピンコートしたものです。(Carbon Nanotechnology Inc.製)
図1：SWNT/アクリル樹脂 8wt% 試料の 凹凸像とEFM像測定例 （試料ご提供 (独)科学技術振興機構 相田ナノ空間プロジェクト）
図2：EMF測定例(精製単層CNT（HiPco） と DNA溶液を混合してマイカ基盤上にスピンコートしたも) （試料ご提供およびご指導：名古屋大学大学院 理学研究科 篠原研究室）
 |
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM)
走査型プローブ顕微鏡（SPM/AFM)は、試料表面を微小な探針で走査することによって三次元形状を高倍率で観察する顕微鏡の総称です。