表面汚染:電子部品の端子に付着した異物の分析

電子部品の端子に付着した異物の分析事例です。反射法で測定し，スペクトルからケイ酸塩と同定されました。

広視野カメラを用いることで，部品全体の観察から測定箇所の決定まで，スムーズに行うことができます。薄いシミや小さい異物など，反射測定で良好なスペクトルが得られにくい場合には，ATR法（Geプリズム）などが有効です。