分析計測機器
Analytical and Measuring Instruments
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近年、X線入射角度を試料面に対して低角にして、X線侵入深さを浅くすることにより表面感度を高める薄膜X線回折法が多く利用されております。本法を用いた応用例は島津アプリケーションニュースNo.135、157に示しましたが、今回は薄膜の厚みの情報を求めた例について紹介いたします。
2006.07.31
石油化学