バックフラッシュGC システムによる低分子環状シロキサンの迅速分析

はじめに

シリコーンは優れた耐熱性、耐薬品性、低い毒性などの有用な性質を持ち、電機、電子製品によく使用されています。これらのシリコーン製品には低分子環状シロキサンが含まれていることがあり、これが原因で導通不良障害を起こすことがあります。環状シロキサンは、シロキサンが 3個以上結合した化合物を指し、Dn（nはシロキサンの結合数）と表記されます。低分子環状シロキサンは、シロキサンが3個（D3）から10個（D10）結合したものを指すことが多く、D3からD10の合量が一つの指標となります。 低分子環状シロキサンの分析にはGCが良く使われています。シリコーン製品からの抽出物には高沸点成分を多く含むため、カラムから高沸点成分を追い出すのに、高温で長時間焼き出す必要があり、結果的に分析時間が長くなります。また、高沸点成分の焼き出しが不十分な場合、次分析に残留物が検出されることも懸念されます。 そこで本アプリケーションニュースでは、低分子環状シロキサンの迅速分析が可能なバックフラッシュGCシステムをご紹介します。

2018.03.18