分析計測機器
Analytical and Measuring Instruments
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GaAs(100)基板(2°傾斜)上にMBE成長されたIn0.7Ga0.3Asの量子ドットが観察されています。AFM像から、量子ドットの密度、形状、規則性といった光電子工学において重要な情報を得る事が可能です。 (サンパウロ大学 M.J. da Silva、Prof. A.A. Quivy ご提供)