金属粒界

走査型プローブ顕微鏡（SPM）を用いて、鋭敏化熱処理したSUS304試料表面の粒界を観察しました。左がAFM凹凸像、右がKFM電位像です。
組成の差に起因して、KFM像において粒界部分の電位が周辺よりも80mV程度高く測定されています。

（データご提供：早稲田大学 理工学術院 物質開発工学科 酒井潤一先生）