めっき界面

鉄（Fe）に銅（Cu）をメッキした試料の断面を切り出し、走査型プローブ顕微鏡（SPM）を用いて、その界面の電位測定を行いました。
左の凹凸像では界面は分らないですが、右の電位像により銅側がほぼ0Vであるのに対して、鉄側が約90mV高く測定されました。