混合ナノ粒子の測定

IG資料館

5.混合ナノ粒子の測定

粒子径が100nm以下のいわゆるナノ粒子において、広い分布(ブロードな分布)を持つナノ粒子の測定は、従来の散乱光を用いる測定方法では大変難しい課題でした。原因は散乱光強度の強い粒子径依存性にあると考えられます。

ナノ粒子では、同一体積の粒子から生じる散乱光強度はおおむね粒子径の3乗に比例します。粒子が広い分布を持つ場合、大きい粒子からの散乱光は非常に強く、小さい粒子からの散乱光は非常に弱くなり、その結果小さい粒子の情報を正確に評価することが困難となると考えられます。

一方、新しい測定技術であるIG法は回折光を使用しています。同一体積の粒子から生じる回折光信号強度(回折光強度の平方根)は粒子径に依存しないため、粒子径分布が広い場合でも大きい粒子から小さい粒子までの情報を正確に評価することが可能となります。

表1に各測定技術における信号量と粒子径の関係を示します。

表1. 信号量と粒子径の関係

側定技術\粒子径 1nm 100nm
IG法 1 1
光散乱法 1/1,000,000 1

IG-1000 Plusでシングルナノを含む2種類シリカ粒子(ラベル径5nm,17nm)を1対1で混合したサンプルを測定し、混合前の各粒子の測定結果と比較したものをグラフ1に示します。

シングルナノ粒子を含む2種類のシリカ粒子を混合したサンプルの測定結果は、それぞれの粒子径分布を含むブロードな分布となっており、混合粒子の粒子径分布を正確に表していることがわかります。

IG-1000 Plusは、従来難しかった広い分布を持つナノ粒子の粒子径分布を正確に測定することが可能です。

△:シリカ5nm
:シリカ17nm
○:シリカ5nm+17nm(1対1混合)

グラフ1. シリカ混合粒子び測定結果

グラフ1. シリカ混合粒子び測定結果

*ラベル径の値付けは比表面積法によります。

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※外観および仕様は改良のため、予告なく変更することがあります。

特長測定データ:アプリケーション:仕様

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