SALD-HCシリーズ

SALDシリーズ用高濃度サンプル測定システム

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従来は測定できなかった高濃度サンプルの粒度分布測定が可能です。
キャリブレーションの必要がなく、少量のサンプルで測定することができます。

特長

1.レーザ回折・散乱法を応用した高濃度測定を実現

  • 従来、レーザ回折・散乱法では測定できなかったような濃度の高いサンプルの粒度分布測定が可能です。
  • 希釈することで粒度分布が変化してしまうようなサンプルでも、原液のまま、あるいは必要最低限の希釈で測定が可能なため、より正確な測定が期待できます。
  • 市販のハンドクリームや乳液、リンスなどは、ほとんどそのままの状態で測定できます。

2.複雑なパラメータ設定の必要がありません

  • 超音波を用いる方法とは異なり、キャリブレーションの必要がありません。
  • 測定対象の特性に関する複雑なパラメータを設定する必要もありません。
  • 設定する必要があるのは、屈折率だけです。

3.少量のサンプルで測定が可能

  • 少量のサンプルで測定することができます。
  • 貴重なサンプルを無駄に消費しなくてすみます。

測定データ例

W/Oエマルジョンの粒度分布

W/Oエマルジョンの粒度分布

保存状態の異なる2種類の缶コーヒーの粒度分布

保存状態の異なる2種類の缶コーヒーの粒度分布

注意

  • 高濃度サンプル測定システムの測定範囲は標準の湿式測定(フローセルまたは回分セル使用時)よりも制限されます。つまり測定範囲はせまくなります。
  • 測定可能濃度は、20wt%程度が上限の目安となりますが、試料物質や粒子径、粒度分布によっては、10wt%程度でも測定が困難な場合があります。
  • 分布幅の広いサンプルは、分布幅の狭いサンプルに比べて多重散乱の影響を受け易く、正確に測定できない場合があります。

※外観および仕様は改良のため、予告なく変更することがあります。

特長:測定原理システム構成/付属品

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