変色したPb 部材の表面分析

はじめに

XPS（X 線光電子分光法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）は固体表面に軟 X 線を照射したときに放出される光電子のエネルギーを測定する表面分析手法であり、物質表面の元素の定性・定量分析、化学結合状態分析ができます。XPS の分析深さは表面から約 10 nm とごく浅く、物質最表面の化学状態に関する情報を得ることができます。そのため、腐食や変色などの表面で起こる諸現象の分析において XPS は極めて有効な手法といえます。本報告では、白く変色した Pb 部材の表面で、Pb の化学状態にどのような変化が起きているか分析した例をご紹介します。

2020.07.30