トライスターII Plus 3030 - 仕様
マイクロメリティックス自動比表面積/細孔分布測定装置
モデル |
標準形 |
クリプトン対応形 |
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測定方式 |
定容法によるガス吸着法 |
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測定ポート |
3ポート |
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比表面積測定範囲 |
窒素使用時 0.01m2/g以上(全表面積0.1m2以上) |
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- |
クリプトン使用時0.001m2/g以上 |
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メソポア細孔分布 |
直径約1~100nm(窒素、BJH法による) |
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マイクロポア細孔分布 |
直径約0.7~2nm |
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使用ガス |
窒素などの腐食性のないガス |
窒素,クリプトンなどの腐食性のないガス |
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試料セル |
丸型フラスコ型,球部内容積 約5cm3 |
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液体窒素系 |
液面制御:等温ジャケット方式 |
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圧力測定 (メーカー仕様) |
測定レンジ 分解能 精度 |
0~127kPa(950mmHg) |
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- |
0~1.333kPa(10mmHg) |
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マニホールド温度測定 |
精度:0.25℃ 分解能:0.1℃ |
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排気系 |
ポンプ形式 |
2段メカニカルポンプ |
ドライポンプ+ターボ分子ポンプ |
大きさ、重量 |
幅400X奥行510X高さ740mm、約37kg |
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使用環境 |
温度:10~35℃ |
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所要電源 |
本体 |
AC100V±10%、50/60Hz、150VA |
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真空ポンプ |
AC100V±10%、50/60Hz、180VA |
AC100V±10%、50/60Hz、400VA |
[解析項目] ・多点法・1点法BET比表面積 ・Langmuir 比表面積 ・BJH法によるメソポア細孔分布 ・t-プロット、αsプロット法によるマイクロポア解析 ・MP法によるマイクロポア細孔分布 ・DR/DA法によるマイクロポア細孔分布 ・Freundlich式、Temkin式 等温線解析 ・f-Ratioプロットによる等温線比較 ・DFT法による細孔分布 |
※外観および仕様は改良のため、予告なく変更することがあります。