電気・電子

故障解析,表面汚染,薄膜評価,物性評価,雰囲気・水質環境,RoHS規制対応についてご紹介します。

故障解析

IC に生じた不良箇所の観察,はんだボールの変形・クラック・ボイド・接合状態の観察など

表面汚染

ウェハ上の極微小ゴミの観察,Pbフリー対応基板のマッピング分析など

薄膜評価

シリコンウェハ薄膜の断面観察,表面フォトレジスト薄膜の膜厚測定など

物性評価

BGAチップの剥離耐久性試験,プリント基板の熱膨張測定など

雰囲気・水質環境

メッキ液の管理,クリーンルーム中の大気分析など

LED

GaNエピタキシャル膜測定,表面積計算による放熱設計,光刺激によるストレス・快・不快感の評価など

スマートデバイス

近接センサ窓の透過率測定や内部観察など

有害物質規制

RoHS/ELV指令について