JPCA SHOW 2014 第44回国際電子回路産業展 会期:6月4日(水)~6日(金),東京

JPCA SHOW 2014 第44回国際電子回路産業展

平素は格別のご高配を賜り,厚くお礼申し上げます。
弊社は,電子回路部品の開発・評価から品質管理・検査に必要な各種電子デバイス解析・評価装置を幅広くご提供させて頂いております。
今回は,高密度実装基盤や電子部品の欠陥解析に威力を発揮する,マイクロフォーカスX線透視装置をご紹介いたします。
是非お立ち寄りください。

会期 2014年6月4日(水)~6日(金)

10:00~17:00

会場 東京ビックサイト 島津ブース 東5ホール 5H-17
主催 一般社団法人日本電子回路工業会(JPCA)
JPCA SHOW 2014公式サイト
JPCA SHOW 2014 マップ

セミナーのご案内

NPIプレゼンテーションの案内

「X線透視マイクロCTシステムによる研究開発・不良解析技術のご提案」
6月6日(金)12:50~13:20 東3ホールE会場

X線による非破壊検査の基礎から応用まで幅広く信頼性評価技術の事例を説明いたします。
半導体,照明,蓄電池,車載電子部品への解析技術を中心に最新のアプリケーション例を紹介します。

出展製品

マイクロフォーカスX線透視装置
SMX-1000 Plus/SMX-1000L Plus

使いやすさと高機能をさらに極めたX線検査装置

SMX-1000 Plus/SMX-1000L Plusは,業界のベンチマークとなった従来機(SMX-1000/SMX-1000L)をさらに洗練したX線透視装置です。
従来機で好評いただいた操作性をさらに向上させ,シンプルで見やすい画面になりました。透視画像や外観画像は大きく表示することで,一段と視認性を高めています。 計測機能は操作を大きく簡略化し,複雑なパラメータ設定をせずにワンクリックで計測結果が得られます。外観画像によるナビゲーション機能,ステップ送り,ティーチング,画像一覧表示などの豊富な機能に加えて注目範囲の強調表示などの新機能も盛り込んでいます。

マイクロフォーカスX線CTシステム
inspeXio SMX-225CT シリーズ

最高クラスの画質と操作性

inspeXio SMX-225CTは,自社製マイクロフォーカスX線発生装置と高感度X線検出器を搭載した,高性能マイクロフォーカスX線CTシステムです。 直感的なユーザーインタフェースにより,誰でも簡単にサンプル内部の3次元構造を観察できます。広々としたCTステージと新たな検出器で,より大きなサンプルが検査できます。微小化の進む電子デバイスから自動車のアルミダイカスト製品まで,1台であらゆる用途に対応します。

年別一覧

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