JPCA SHOW 2013 第43回国際電子回路産業展
会期:6月5日(水)~7日(金)

JPCA SHOW 2013 第43回国際電子回路産業展

平素は格別のご高配を賜り,厚くお礼申し上げます。
弊社は,電子回路部品の開発・評価から品質管理・検査に必要な各種電子デバイス解析・評価装置を幅広くご提供させて頂いております。
今回は,高密度実装基盤や電子部品の欠陥解析に威力を発揮する,マイクロフォーカスX線透視装置をご紹介いたします。
是非お立ち寄りください。

会期 2013年6月5日(水)~7日(金)
   

10:00~17:00

会場 東京ビックサイト 島津ブース 東4ホール4G-27
主催 一般社団法人日本電子回路工業会(JPCA)
    JPCA Show 2013公式サイト

小間内セミナ

弊社ブース内においてX線透視装置を用いた最新の電子回路部品の検査・解析事例について小間内セミナを開催しております。ぜひご参加ください。

出展製品

マイクロフォーカスX線透視装置
SMX-1000/SMX-1000L

FPD(デジタルフラットパネル検出器)を採用しており,密封管タイプのマイクロフォーカスX線管球との組合せにより,歪みやムラのない非常に鮮明な画像で観察することができます。また,新開発のソフトウェアは,サンプル種類の指定で検査条件が自動的に設定されるなど,簡単な操作で目的の検査が効率よく行えます。わずらわしい操作は一切必要ありません。また,可視光のCCDカメラで撮影した画像によるナビゲーション機能および,ステップ送り,ティーチング,画像データベース,各種計測など豊富な機能を備えています。

年別一覧

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