島津 粒子解析セミナー
「粒子特性評価の新たな挑戦 -観察・測定・解析-」
会期:11月29日(金),東京

この度,島津製作所は新製品ダイナミック粒子画像解析システム iSpect DIA-10のリリースを記念し,粉の解析/測定をテーマとしたセミナーを開催する運びとなりましたので,ご案内いたします。
本セミナーでは,各種粉体測定装置/観察装置など様々な角度からの粒子特性評価・測定に関して多彩なアプリケーションを交えてご紹介します。ご多忙とは存じますが,皆様にはぜひともご来場たまわりますよう,何卒よろしくお願い申し上げます。

株式会社 島津製作所 分析計測事業部

◆ 日 時 2019年11月29日(金)13:00~17:00 (開場・受付開始 12:30から)
◆ 会 場 株式会社島津製作所 東京支社 2F イベントホール [会場アクセス
(東京都千代田区神田錦町1丁目3)
◆ 定 員 40名(※定員になり次第,締め切らせていただきます。)
◆ 参加費 無料
◆ お申込み

申込受付を終了しました。

プログラム

時間 セミナー内容
13:00 - 13:05 開会挨拶
13:05 - 13:50

粒子形状の観察だけでなく個数濃度や異物の測定が可能!
新製品ダイナミック粒子画像解析システム "iSpect DIA-10" のご紹介

iSpect DIA-10は簡単な測定手順で鮮明な画像と見逃しの少ない粒子検出を両立した動的画像解析装置です。微量の異物/粗大粒子の検出,粒子濃度測定,粒子形状評価といったiSpectだからこそできる評価について解説し,電池材料や塗料などの多様なアプリケーションを紹介します。
13:50 - 14:00 休憩 / 装置見学
14:00 - 15:00

微細な粒子をくっきり三次元観察!ナノレベルの解析までできる!
- 走査型プローブ顕微鏡(SPM)による粒子観察・解析技術のご紹介 -

走査型プローブ顕微鏡は,微小なプローブ(探針)で試料表面を走査し,三次元形状や局所的物性を高倍率で観察できる顕微鏡です。粒子観察・解析について最新アプリケーションを紹介します。
15:00 - 15:10 休憩 / 装置見学
15:10 - 15:50

粒子径分布測定の落とし穴にお気づきですか?正しい評価方法!
- 複数原理を用いた評価およびサンプルの性質に合わせた測定手法の紹介 -

レーザ回折法や画像解析法など複数の測定手法で計測することにより,さまざまな角度から粒子径分布を評価することができます。今回はその測定手法や最新アプリケーションを紹介します。
15:50 - 16:00 休憩 / 装置見学
16:00 - 16:30

目から鱗の密度測定!!多角的評価
- それでもあなたは,液浸法にこだわりますか? -

密度測定は原料~スラリー~製品までどのフェーズでも関わりますが,真密度,粒子密度,かさ密度,タップ密度など様々な定義があります。今回はこれに対応した測定技術を解説し,密度という基本的な物理量に基づく粒子特性評価の応用例を紹介します。
16:30 - 16:50

比表面積・細孔分布測定 - 多角的な粒子特性評価 -

ガス吸着法や水銀圧入法に基づく比表面積・細孔分布測定における各種データ解析手法と,電池材料や触媒を対象とした先端的アプリケーションを紹介します。
16:50 - 17:00 閉会挨拶

※タイムスケジュールは多少前後する場合がございます。予めご了承ください。

ご連絡先(キャンセル・お客様変更など)

株式会社島津製作所 分析計測事業部 グローバルマーケティング部 担当:中村
(TEL:03-3219-5609 / FAX:03-3219-5557)

展示予定製品

年別一覧

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