島津 劣化解析・不具合評価セミナー 2018
会期:11月22日(木),東京

~有機から無機,微小部から広域,表層から内部まで,
    装置の基礎と様々な分析事例をご紹介します~

このたび,『島津 劣化解析・不具合評価セミナー2018』を開催いたします。
本セミナーでは,有機・無機材料の微小部~広域,また表層~内部における劣化解析や不具合評価における課題とそのソリューションをご提供すべく,様々な分析手法の基礎およびアプリケーションを紹介します。
ご多忙とは存じますが,ぜひご参加いただけますようよろしくお願い申し上げます。

主催:株式会社 島津製作所 分析計測事業部

◆ 日 時 2018年11月22日(木)13:00~17:00 (受付開始 12:00)
◆ 会 場 株式会社島津製作所 東京支社 イベントホール 会場アクセス
(東京都千代田区神田錦町1-3)
◆ 定 員 60名 (※定員になり次第,締め切らせていただきます。)
◆ 参加費 無料
◆ お申込み

おかげさまで定員となり、申込受付を終了しました。

プログラム

時間 セミナー内容
13:00 - 13:10 開会の挨拶
13:10 - 13:50

「FTIRによる有機物の劣化解析」

赤外スペクトルからは物質の構造に関する情報が得られます。官能基の酸化劣化による増加,二重結合の切断による減少など,有機物を中心としたアプリケーション事例を紹介します。
13:50 - 14:30

「XPSによる試料劣化解析」

XPSの化学結合状態が解析できる特徴を利用して,試料の劣化に対してどのような解析ができるかのアプリケーション事例をご紹介します。
14:30 - 15:10

「EPMAによる微小部の劣化・不具合解析」

腐食・酸化・疲労破断などの解析にEPMAは有用であり,無機材料の微小部の劣化および不具合解析に関するアプリケーション事例をご紹介します。
15:10 - 15:30 コーヒーブレイク
15:30 - 16:10

「LSMとSPMによる形状検査と表面粗さ測定」

走査型レーザー顕微鏡(LSM)および走査型プローブ顕微鏡(SPM)を用いた形状検査と表面粗さ測定について,劣化解析に関するアプリケーション事例と共に最新技術をご紹介します。
16:10 - 16:50

「不具合観察・解析を支援する最新のX線CTシステムのご紹介」

軽金属から電機部品,GFRP・CFRPといった複合材料まで対応可能な弊社X線CTとアプリケーションの紹介をします。
16:50 - 17:00 閉会の挨拶

※タイムスケジュールは多少前後する場合がございます。予めご了承ください。

ご連絡先 (キャンセル・お客様変更など)

株式会社島津製作所 分析計測事業部 グローバルマーケティング部 担当:中村
(TEL:03-3219-5609 / FAX:03-3219-5557)

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