島津 劣化解析・不具合評価セミナー 2018
会期:11月22日(木)，東京
～有機から無機，微小部から広域，表層から内部まで，
装置の基礎と様々な分析事例をご紹介します～
このたび，『島津 劣化解析・不具合評価セミナー2018』を開催いたします。
本セミナーでは，有機・無機材料の微小部～広域，また表層～内部における劣化解析や不具合評価における課題とそのソリューションをご提供すべく，様々な分析手法の基礎およびアプリケーションを紹介します。
ご多忙とは存じますが，ぜひご参加いただけますようよろしくお願い申し上げます。
主催：株式会社 島津製作所 分析計測事業部
| ◆ 日 時 | 2018年11月22日（木）13:00～17:00 （受付開始 12:00） |
|---|---|
| ◆ 会 場 | 株式会社島津製作所 東京支社 イベントホール 会場アクセス （東京都千代田区神田錦町1-3） |
| ◆ 定 員 | 60名 （※定員になり次第，締め切らせていただきます。） |
| ◆ 参加費 | 無料 |
| ◆ お申込み |
おかげさまで定員となり、申込受付を終了しました。 |
プログラム
| 時間 | セミナー内容 |
|---|---|
| 13:00 - 13:10 | 開会の挨拶 |
| 13:10 - 13:50 |
「FTIRによる有機物の劣化解析」 赤外スペクトルからは物質の構造に関する情報が得られます。官能基の酸化劣化による増加，二重結合の切断による減少など，有機物を中心としたアプリケーション事例を紹介します。 |
| 13:50 - 14:30 |
「XPSによる試料劣化解析」 XPSの化学結合状態が解析できる特徴を利用して，試料の劣化に対してどのような解析ができるかのアプリケーション事例をご紹介します。 |
| 14:30 - 15:10 |
「EPMAによる微小部の劣化・不具合解析」 腐食・酸化・疲労破断などの解析にEPMAは有用であり，無機材料の微小部の劣化および不具合解析に関するアプリケーション事例をご紹介します。 |
| 15:10 - 15:30 | コーヒーブレイク |
| 15:30 - 16:10 |
「LSMとSPMによる形状検査と表面粗さ測定」 走査型レーザー顕微鏡（LSM）および走査型プローブ顕微鏡（SPM）を用いた形状検査と表面粗さ測定について，劣化解析に関するアプリケーション事例と共に最新技術をご紹介します。 |
| 16:10 - 16:50 |
「不具合観察・解析を支援する最新のX線CTシステムのご紹介」 軽金属から電機部品，GFRP・CFRPといった複合材料まで対応可能な弊社X線CTとアプリケーションの紹介をします。 |
| 16:50 - 17:00 | 閉会の挨拶 |
※タイムスケジュールは多少前後する場合がございます。予めご了承ください。
ご連絡先 (キャンセル・お客様変更など)
株式会社島津製作所 分析計測事業部 グローバルマーケティング部 担当：中村
(TEL：03-3219-5609 / FAX：03-3219-5557)