第35回エレクトロテスト ジャパン
会期:2018年1月17日(水)～19日(金)，東京
平素は格別のご高配をたまわり，厚くお礼申し上げます。
当社ブースでは高密度実装基板や電子部品の欠陥解析に威力を発揮するマイクロフォーカスX線透視装置･CTシステムなど各種評価装置をご紹介いたします。皆様のご来場を心よりお待ちしております。
| ◆会期 | 2018年1月17日(水)～19日(金) |
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| ◆時間 | 10：00～18：00(最終日は17:00まで) |
| ◆会場 |
東京ビッグサイト 東4ホール ［主催者WEBサイト］
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ご紹介予定製品
計測用X線CTシステム XDimensus 300
“ 新次元” 計測
XDimensus™300は対象ワーク内部の3次元内外寸法計測が可能な計測用X線CTシステムです。
優れた解像度と広い視野を実現する高解像度広視野検出器や，X線発生効率を当社比で約3倍に高めた自社製の新型X線発生装置，優れた操作性を実現する新ソフトウェアだけでなく，装置内部の温度を一定に保つ空調装置と高い形状安定性を実現するフレーム，超高精度ワーク位置決めステージにより，従来の観察用X線CTシステムではなしえなかった測定精度を実現しています。
マイクロフォーカスX線透視装置 Xslicer SMX-6000
X線透視とCT撮影をシームレスに融合
Xslicer SMX-6000は自社製マイクロフォーカスX線発生装置と高感度フラットパネル検出器を搭載したCT機能付きX線検査装置です。
スムーズな切り替え操作により透視観察と断面観察がすばやくできます。
マイクロフォーカスX線CTシステム inspeXio SMX-225CT FPD HR
常識を覆す画質・進化した操作性
inspeXio SMX-225CT FPD HRは自社製マイクロフォーカスX線発生装置と大型高解像度フラットパネル検出器を搭載した高性能マイクロフォーカスX線CTシステムです。
広大な検出エリア，最大1,400万画素相当の入力解像度，そして更なる改良を加えた高出力マイクロフォーカスX線発生装置によって，「高出力装置では軟 素材のコントラストは得られない」という常識を覆す，広視野・高解像度・高コントラストな断面画像を得ることができます。
マイクロフォーカスX線透視装置 SMX-1000 Plus
使い易さと高機能をさらに極めたX線検査装置
SMX-1000 Plus／SMX-1000L Plusは，業界のベンチマークとなった従来機(SMX-1000／SMX-1000L)をさらに洗練したX線透視装置です。
従来機で好評いただいた操作性をさらに向上させ，シンプルで見やすい画面になりました。透視画像や外観画像は大きく表示することで，一段と視認性を高めています。
ブース内デモのご案内
SMX-1000 Plusに自動計測ソフトウェアを搭載してデモを行います。
ブース内セミナーのご案内
非破壊検査装置による最新の事例，技術，装置をご紹介します。
島津ブース案内
場所：東京ビッグサイト 東4ホール 島津ブース 小間番号： E32-002
