島津 新技術セミナー in 立川
会期:7月21日(金),東京

この度,都下エリアで分析業務に従事されているお客様を対象に『新技術セミナー』を開催いたします。
本セミナーは,異臭・異物の問題に迅速かつ的確に対応するための技術及び製品ご紹介から,改正RoHS指令に向けたフタル酸エステル分析法の国際規格に準拠したスクリーニング分析システム「Py-Screener」のご紹介,高分子材料を対象とした表面分析装置の最新アプリケーションについて講演させていただきます。
広い分野に渡ってのセミナーとなりますので,多くのお客様に役立てていただけるセミナーです。
ご多忙中とは存じますが,皆様のご参加を心よりお待ち申し上げます。

主催:株式会社 島津製作所

◆ 日 時 2017年7月21日(金)13:00~17:30 (受付・開場12:30~)
◆ 会 場 アレアレア2(AREAREA2) 6F アレアホール
東京都立川市柴崎町3-6-29 会場アクセス
(※ JR立川駅南口立川駅からペデストリアンデッキで直結 お問い合わせ:TEL.042-521-7111)
◆ 定 員 50名(※定員になり次第,締め切らせていただきます。)
◆ 参加費 無料
◆ お申込み

下記より申込用紙をダウンロードしていただき,必要事項をご記入の上,FAXにてお申し込み下さい。
受付後,参加票をFAX送信させていただきます。

プログラム

時間 セミナー内容
(1)13:00~13:50 『FTIRおよびEDXを用いた各種異物検査』 有機系および無機系異物の同定解析事例とEDX-FTIR 統合解析システムのご紹介をいたします。
13:50~14:00 休憩
(2)14:00~14:50 『走査型プローブ顕微鏡の最新アプリケーションご紹介』 樹脂フィルムのマッピング解析では表面形状と同時に吸着力や弾性率の分布の測定も可能です。従来機比5倍以上の速さを実現したSPM-9700HTを中心に,最新のアプリケーションと技術を紹介いたします。
14:50~15:00 休憩
(3)15:00~15:20 『最新分析天びんのご紹介』 高速かつ安定した計量によって,ひょう量作業の省力化に貢献する新型分析天びん3シリーズをご紹介いたします。
(4)15:20~15:40 『分析機器のオペレーティングリースについて』 オリックスレンテックより,科学・分析機器のオペレーティングリース「Lレンタル」のご紹介をいたします。
(5)15:40~16:20 『改正RoHS指令に対するフタル酸スクリーニング分析システム』 改正RoHS指令で規制対象となるフタル酸エステル類の分析法について,国際規格であるIEC62321Part8で採用されたPYGCMS法に準拠したPY-Screenerの特⾧を解説します。
16:20~16:30 休憩
(6)16:30~17:20 『GC/MS異臭分析システムを用いた異臭分析のアプローチ』 異臭分析のノウハウをデータベース化したGC/MS異臭分析システムを用いて,異臭の原因物質を特定するまでのアプローチについて紹介いたします。
17:20~ 質疑応答および装置ご見学

※タイムスケジュールは多少前後する場合がございます。予めご了承ください。

展示機器

ご連絡先 (キャンセル・お客様変更など)

株式会社島津製作所 東京支社 分析計測営業部第2グループ 担当:佐野
(TEL:03-3219-5721 / FAX:03-3219-5560)

年別一覧

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