島津 自動不良解析システム(赤外顕微鏡)
AIM-9000 リリース SPECIAL EVENT
会期:6月15日（水），東京
島津製作所は，業界最高クラスかつ大幅な自動化を実現した，赤外顕微鏡「AIM-9000」を5月12日に発売しました。
本製品は，“簡単”かつ“自動”で微小な異物を測定できることを開発の軸としており，様々な自動化機能に加え，解析プログラムソフトウェアによって未知 サンプルを素早く同定できます。皆様の研究や業務のお役に立てる微小領域の赤外分光分析システムとして，弊社が自信を持ってご提供する新製品です。
本イベントでは，東京工業大学 物質理工学院 松下祥子先生にご登壇いただき，「顕微赤外スペクトルによるフォトニック結晶構造の光学特性評価」についてご講演いただきます。弊社からは 新製品AIM-9000のご紹介と共に，実機の展示やポスターおよびパネル展示も行ないます。パーティー形式での開催とさせていただきますので，お気軽に ご歓談いただけます。
ご多忙中とは存じますが，日頃ご愛顧いただいております皆様には是非ともご来場たまわりますよう，何卒よろしくお願い申し上げます。
島津製作所 分析計測事業部
| ◆ | 日 時 | ： |
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| ◆ | 会 場 | ： | 東京国際フォーラム G701会議室 東京都千代田区丸の内3丁目5番1号ガラス棟7F G701会議室 会場アクセス |
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| ◆ | 定 員 | ： | 50名 | ||
| ◆ | 参加費 | ： | 無料 | ||
| ◆ | 申込み | ： | 上記のお申込みフォームを利用してお申込みください。受付後，折り返しFAXにて，受付票をお送りいたします。 | ||
 セミナープログラム |
| 時間 | セミナー内容 |
| 15:30 |
受付開始 |
| 16:00 |
ご挨拶 |
| 16:10 ～16:50 |
【招待講演】 （東京工業大学 物質理工学院 松下祥子 先生） |
| 16:50 ～17:30 |
AIM-9000による異物/不良解析～自動不良解析システムの活用～ （弊社技術者） |
| 17:30 ～18:00 |
AIM-9000による不良解析デモンストレーション （弊社技術者） |
| 18:00 ～19:30 |
ポスター&パネルセッション 懇親会 |
展示予定製品
ご連絡先 (キャンセル・お客様変更など)
島津製作所 分析計測事業部 グローバルマーケティング部 中村
(TEL：03-3219-5609 / FAX：03-3219-5557)