第33回エレクトロテスト ジャパン 会期:2016年1月13日(水)~15日(金),東京

第33回エレクトロテスト ジャパン

平素は格別のご高配をたまわり,厚くお礼申し上げます。
当社ブースでは高密度実装基板や電子部品の欠陥解析に威力を発揮するマイクロフォーカスX線透視装置・CTシステムなど各種評価装置をご紹介いたします。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。

会期 2016年1月13日(水)~15日(金)
時間 10:00~18:00 ※15日(金)のみ17:00終了
会場 東京ビッグサイト 東2ホール 島津ブース 小間番号 E14-16
    第33回エレクトロテスト ジャパン 公式サイト
ブースマップ

ご紹介予定装置

使いやすさと高機能をさらに極めたX線検査装置
マイクロフォーカスX線透視システム SMX-1000 Plus-VCT
マイクロフォーカスX線透視システム
SMX-1000 Plus-VCT

小間内セミナーの案内

弊社ブースにて

産業用X線透視,CT装置の最新アプリケーションのプレゼンを数回実施いたします。
同時に,外部講師による講演も予定しておりますので是非お立ち寄りください。

出展社による製品・技術セミナーのご案内

日時 : 1月15日(金)12:20~13:20
会場 : PRセミナー会場東A(東1ホール)

X線検査システムによる内部観察の実例
高密度実装の内部非破壊検査のための最新のX線検査システムを紹介します。

年別一覧

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