nano tech 2015 第14回国際ナノテクノロジー総合展・技術会議 会期:2015年1月28日(水)~30日(金),東京

nano tech 2015 第14回 国際ナノテクノロジー総合展・技術会議

平素は格別のご高配を賜り,厚くお礼申し上げます。
当社ブースでは総合分析計測機器メーカーとして,新たな機能の発明が期待される「ナノ粒子」や,さまざまな素材の,ミクロの領域からより微小な領域までの材料評価を可能とする各種分析計測機器をご紹介します。
皆様のご来場を心よりお待ちしております。

会期 2015年1月28日(水)~30日(金)
時間 10:00~17:00
会場 東京ビッグサイト 東6ホール 島津ブース 小間番号 6B-16
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ブースマップ

ご紹介予定装置

The Grand EPMA
電子線マイクロアナライザ
EPMA-8050G
(アプリケーション・模型展示)

電子線マイクロアナライザ

SEM観察条件から1μAオーダーに至るまで,全てのビーム電流条件でかつてない卓越した空間分解能が得られる最新鋭のFE電子光学系を搭載し,高性能X線分光器との融合により,その分析能力は究極と言えるまでに進化しました。

イメージ空間分解能はサブミクロンへ
複合型全自動イメージング X線光電子分析装置
KRATOS ULTRA2
(アプリケーション・模型展示)

X線光電子分析装置

操作部分をすべてコンピュータコントロール化しながら,性能とフレキシビリティを高めたマルチテクニックXPS装置です。多彩なオプションにより,あらゆるニーズに対応します。高速な光電子パラレルイメージングは空間分解能が1ミクロンに達し,さらにアプリケーションの幅が広がりました。

未知の領域を可視化する
高分解能走査型プローブ顕微鏡
SPM-8000FM
(アプリケーション・模型展示)

高分解能走査型プローブ顕微鏡 SPM-8000FM

周波数検出方式を採用した新世代の走査型プローブ顕微鏡です。超高分解能観察だけでなく,固液界面における水和・溶媒和の観察が初めて可能となりました。

ミリからナノまでの超ワイドレンジの観察・測定
ナノサーチ顕微鏡
SFT-4500
(アプリケーション展示)

ナノサーチ顕微鏡 SFT-4500

数十倍から百万倍の超ワイド領域において,ミリからナノまでの観察・測定をたった1台で実現します。

マイクロメリティックス
多検体高性能比表面積/細孔分布測定装置
3Flexシリーズ
(アプリケーション・模型展示)

比表面積/細孔分布測定装置

高効率,高感度,高精度を同時に実現した比表面積/細孔分布測定装置の最上位機種です。極低圧領域を含む全領域での圧力制御・検出機能を強化,マイクロポア細孔分布測定,低比表面積測定を最大3ポートで同時高精度測定が可能になりました。MOF(金属一有機構造体)などの革新的な多孔性材料の高精度評価に対応します。

ナノ粒子の分散・凝集性評価
ナノ粒子径測定装置
SALD-7500nano
(アプリケーション・実機展示)

ナノ粒子径測定装置 SALD-7500nano

代替手段のない高感度ナノ粒子径分布測定を実現。ナノテクノロジー,ライフサイエンス,ファインバブルなど,最先端の技術開発・製品開発を強力にサポートします。

シーズ&ニーズセミナーの案内

日時 : 1月30日(金)14:10~14:55
会場 : シーズ&ニーズセミナー C会場

ナノ粒子特性評価の新たな挑戦 -分散・凝集特性評価など-

微粒子・ナノ粒子は不安定で変化しやすく,電池材料,触媒,バイオ医薬などの最先端分野で有効利用するためには,分散・凝集などにともなう変化を前提に評価を行わなければなりません。ここでは変化を正確に評価するための粒子径分布,比表面積・細孔分布,乾式密度などの最新測定技術・装置とアプリケーションを紹介します。

※事前登録の必要はありません。先着受付順での入場になります。

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